Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS / ORBOT WF 720 #9293621 zu verkaufen

AMAT / APPLIED MATERIALS / ORBOT WF 720
ID: 9293621
Wafergröße: 5"
Wafer inspection system, 5".
AMAT/APPLIED MATERIALS/ORBOT WF 720 ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die für die Halbleiterherstellung verwendet wird. Es bietet ein hochauflösendes Bildverarbeitungssystem, das auf einer einzigartigen Kombination von Computer-Vision-Prinzipien, einschließlich verschiedener Beleuchtungsmodi, und erweiterten Bildverarbeitungsalgorithmen arbeitet. Als Einzeleinheit umfasst es eine voll motorisierte, computergesteuerte Mikroskop-/Kameraplattform, eine benutzerfreundliche GUI-Software und eine leistungsstarke Bildanalyse- und Inspektionssoftware. AMAT WF 720 bietet eine einzigartige Kombination aus ätzloser Maskendefekterkennung und einer zuverlässigen Wafer-Topographie-Kartenüberwachung. Es bietet eine Komplettlösung für die Montage von Halbleiterscheiben, sowohl mit bildgebenden als auch mit Echtzeit-Messkombinationen. All dies geschieht in einem Signalerfassungsrahmen, der eine automatische Ausrichtung, Fokussierung und Auswahl des besten Bild-/Bildverarbeitungsverfahrens für eine bestimmte Anwendung ermöglicht. Die Maschine unterstützt eine Vielzahl beliebter Mikroskopobjektive und Kameraobjektive mit automatischer Fokuseinstellung. Nach dem Platzieren des Wafers und der Inspektion von Maske und Wafer stellt ORBOT WF 720 ein automatisiertes Steuerungstool zur Verfügung, das Abbildungsparameter für beste Bildqualität optimiert. Diese Parameter umfassen Beleuchtung, Belichtungsparameter und bildgebende Vergrößerung. Es enthält auch eine Bereicherung für genaue Fehlerlokalisierung und Charakterisierung. Durch die für die fortschrittliche IC- und MEMS-Fertigung benötigte Analyse bietet das Modell ein leistungsfähiges Werkzeug zur Korrektur und Verifizierung mehrerer Gerätetypen. Für anwendungsspezifische Anforderungen beinhaltet die Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung eine Vielzahl anwendungsspezifischer Optionen. Einige davon umfassen die Möglichkeit, Fehler auf einem Dual-View-Monitor gleichzeitig zu betrachten und zu erkennen, die Projektion auf ebene Oberflächen zu verbessern, Parylen- und Kohlenstoff-Nanoröhrenproben zu messen und die mikroskopische Schnittstelle zu manipulieren. Insgesamt bietet APPLIED MATERIALS WF 720 eine umfassende und zuverlässige Plattform für die moderne Halbleiterindustrie. Aufgrund seiner flexiblen Plattform und seiner Vielzahl von Funktionen ist es in der Lage, Bilder abzubilden, zu messen und mit sehr hoher Genauigkeit zu inspizieren. Dieses System ist eine große Bereicherung für jede Branche, die einen hohen Durchsatz und sensible Messungen erfordert.
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