Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS / ORBOT WF 736 DUO #293730901 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS/ORBOT WF 736 DUO ist eine Mask & Wafer Inspektion Ausrüstung entworfen, um Präzisionsvisualisierung und Analyse von verschiedenen Halbleiterbauelementstrukturen auf Nanometer- und Sub-Nanometer-Auflösungsebene zur Verfügung zu stellen. Das System verfügt über zwei unabhängige Netzteile, so dass jede Inspektionseinheit unabhängig kalibriert und konfiguriert werden kann. Es bietet eine einzigartige Multi-Channel-Methodik, die Benutzern beispiellose Genauigkeit, Auflösung, Kontrast und Empfindlichkeit bietet. Die Maschine verwendet eine fortschrittliche sCMOS-Detektor-Array-Technologie, die eine schnelle Bilderfassung und Datenanalyse ermöglicht. Dieser Detektor wird mit einem hochmodernen Ziel kombiniert, um ein großes Sichtfeld, eine hohe Auflösung, ein geringes Rauschen und einen breiten Dynamikbereich bereitzustellen. Diese Kombination ermöglicht überlegene Bildqualität und Kontrast. AMAT WF 736 DUO ist zudem mit einer hinterschnittenen Stützplattform ausgestattet, um präzise Unterschneidungen auf Subnometerebene zu ermöglichen. Das Werkzeug ermöglicht die Erfassung von Hinterschneidungen über 5.400nm, die dann aufgetragen und analysiert werden können, um die Eigenschaften von Gerätestrukturen zu bestimmen. Das Asset vereint sowohl Stereomikroskopie als auch automatisierte Inspektionsmöglichkeiten, sodass Anwender Gerätestrukturen auf der ~ 100nm, ~ 50nm und ~ 10nm Skala genau beurteilen können. Die Stereomikroskopie ermöglicht es Benutzern, eine ganze Wafer- oder Gerätestruktur abzubilden, wodurch bisher unerkannte Funktionen wie Überbrückung oder kurze Hosen freigelegt werden können. Die automatisierten Inspektionsmöglichkeiten bieten eine flexible Plattform, mit der Benutzer automatisierte Inspektionsparameter an ihre spezifische Anwendung anpassen können. Das Modell enthält eine Reihe von Merkmalen wie automatisierte Kantenerkennung, Profilmessung, Partikelzählung, Mustererkennung, Maßmessungen und Fehlerüberprüfung. Das Gerät enthält auch eine Reihe von erweiterten Bildverarbeitungsalgorithmen. Diese Algorithmen können verwendet werden, um Geräteprofile zu erzeugen, Geräteeigenschaften abzubilden, den Bildkontrast zu verbessern und Gerätemuster zu analysieren. ORBOT WF 736 DUO ist ein extrem leistungsfähiges und vielseitiges System, das Anwendern ein leistungsfähiges Bildgebungs- und Analysewerkzeug für Halbleiterbauelementstrukturen bietet. Seine Eigenschaften bieten überlegene Auflösung, Kontrast und Empfindlichkeit, und seine Stereomikroskopie und automatisierten Inspektionsmöglichkeiten machen es zu einem Muss für jedes Halbleiter-Forschungs- und Entwicklungslabor.