Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS / ORBOT WF 738 DUO #9287501 zu verkaufen

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AMAT / APPLIED MATERIALS / ORBOT WF 738 DUO
Verkauft
ID: 9287501
Patterned wafer inspection system.
AMAT Orbotech AMAT/APPLIED MATERIALS/ORBOT WF 738 DUO Mask & Wafer Inspection Equipment ist eine Multi-Sensor-Plattform, die eine schnelle, automatisierte Prüfung und Überprüfung von Masken- und Waferoberflächen ermöglicht. Dieses System enthält leistungsstarke Bildverarbeitungstechnologie zusammen mit Bildanalyse-Software, um schnelle, genaue Inspektion zu bieten. Die Hardware des Geräts besteht aus einem Hochdurchsatz-automatisierten optischen Subsystem mit zwei unabhängigen MEV (Multi-Electron-Voltage) -Quellen, einem Paar 6-Megapixel-Kameras und einer LED-Lichtmaschine. Die MEV-Quellen können separat konfiguriert werden, um unterschiedliche Energieniveaus bereitzustellen und es dem Benutzer zu ermöglichen, präzise Anpassungen an das zu untersuchende Material vorzunehmen. Die Kameras können Bilder sowohl in einfarbig als auch in Farbe aufnehmen, und die LED-Lichtmaschine bietet Beleuchtungssteuerung für optimale Bildqualität. Zusammen ermöglichen die Komponenten eine schnelle Erkennung und Abbildung von Merkmalen bis zu einer Größe von 0,2 Mikrometern. Die Maschine verwendet ein integriertes Softwarepaket, das eine genaue Fehlererkennung und -klassifizierung ermöglicht. Die Software integriert fortschrittliche Bildverarbeitungsalgorithmen zur automatischen Verfolgung, Punktdetektion und Korrektur von Oberflächenfehlern und Anomalien. Darüber hinaus kann AMAT WF 738 DUO 3D-Topologie und Oberflächenprofilinformationen anhand einer Kombination aus Referenzmessungen und Overlay-Messtechnik erfassen. Das Tool wurde entwickelt, um einen kostengünstigen Ansatz für die Fehlerüberprüfung zu bieten, der eine schnelle Erkennung und Analyse von Fehlern an Wafern und Masken ermöglicht. Die Kombination aus Bildgebungstechnologie, Multi-Energie-Plattform und fortschrittlichen Bildverarbeitungsalgorithmen macht ORBOT/Orbotech ORBOT WF 738 DUO effektiv für die Inspektion und Fehlerüberprüfung in der Masken- und Waferindustrie.
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