Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS Semvision ADC Server #9147377 zu verkaufen

ID: 9147377
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2013
Scanning Electron Microscope (SEM), 12" (2) D-Link managed switches (8) SuperMicro Servers with DVD ROM TOSHIBA DT01ACA050 500GB Hard drive (5) NetApp DS4243 With (24) HITACHI 0F11387 / HUA722010CLA330 / SATA 7200RPM 1TB hard drives Operating console 2013 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS Semvision ADC Server ist eine automatisierte Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die es Maskendesignern und Lithographen ermöglicht, Datenextraktion, Layoutvergleich und Bildverarbeitung schnell und genau zu analysieren. Es ist eine effiziente Lösung für schnelles Nachgeben von Maske und Wafer Herstellung. Dieses System konzentriert sich auf die Produktionsprozesssteuerung mit einem umfassenden Anwendungsspektrum. Es bietet Benutzerfreundlichkeit, automatisierte Analyse und wiederholbare Daten für interne und externe Spezifikationen. Es kommt mit einer Auswahl von Standard-und maßgeschneiderte Software-Tools für eine Vielzahl von Maske und Wafer Datenanalyse Aufgaben. Diese Tools umfassen Datenextraktion, Layoutvergleich, Bildverarbeitung, Fehler- und Schwachstellenerkennung und sogar benutzerdefinierte Skriptfunktionen für spezialisierte Arbeit. Die Einheit wird mit einer Reihe von intuitiven Visualisierern zur Datendarstellung ausgeliefert. Durch seine leistungsstarken Zeichnungsfunktionen können Anwender prozessgenerierte Daten sofort visualisieren, um Einblicke in Verbesserungsbereiche zu erhalten. Diese Papier-zu-Fab-Datenextraktion entnimmt den Designdaten ein einziges Signal und übersetzt es in ein vollwertiges Bild. Dies ist besonders nützlich beim Debuggen und Überprüfen von Wafereigenschaften. Die automatisierten Analysefunktionen der Maschine ermöglichen es Anwendern, detaillierte Inspektionen durchzuführen und Fehler an einzelnen Wafern zu finden. Dies trägt zur weiteren Steigerung der Gesamtproduktionserträge bei. Die automatisierte Analyse bietet auch eine Reihe von grafischen Trace-Rounding-Algorithmen, um Wafer-Muster aus den verarbeiteten Daten zu identifizieren und zu isolieren. Dank seiner ausgeklügelten und agilen Mustererkennungsfunktionen sparen Sie Zeit für mühsame manuelle Aufgaben. Dank der automatisierten Bildverarbeitungsfunktionen können Benutzer das Bild anzeigen, bearbeiten und analysieren. Es enthält Werkzeuge wie Rauschreduzierung, geometrische Transformationen und Kantenverknüpfung, um die Qualität des Bildes zu verbessern. Die Fehlererkennungsfunktion von AMAT Semvision ADC Server ermöglicht die schnelle Erkennung von Problemen, die ein Wafer oder eine Maske haben kann. Es bietet Integration mit Prozessleitsystemen, um Anwendern die Möglichkeit zu geben, schnell Anomalien und defekte Bereiche zu identifizieren. Diese Integration der Prozesskontrollanalyse verbessert die Rückverfolgbarkeit und die Fähigkeit, Fehler inmitten von Waferbildern und verdächtigen Bereichen auf der Maske zu identifizieren, ohne manuell nach Defekten suchen zu müssen. Insgesamt ist APPLIED MATERIALS Semvision ADC Server ein effizientes, automatisiertes Masken- und Wafer-Inspektionswerkzeug zur Beschleunigung der Produktionserträge. Es verfügt über intuitive Datenvisualisierer, leistungsstarke Zeichnungs- und Bearbeitungsfunktionen, automatisierte Prozesssteuerung und effiziente Rückverfolgbarkeit. Dieses Asset bietet Masken- und Wafer-Designern und Lithographen eine intuitive und vielseitige Plattform, um qualitativ hochwertige Inspektions- und Erkennungsaktivitäten zu gewährleisten.
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