Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision CX 300 #293628469 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision CX 300 ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage für Halbleiteranwendungen. Es ist ein zuverlässiges, Hochgeschwindigkeitssystem, das entwickelt wurde, um Halbleitermasken und Wafer, die auf fortschrittliche Prozessknoten zugeschnitten sind, schnell und genau zu überprüfen. Das Gerät bietet Vollfeldinline-Inspektion von Photomasken, Wafern und Mikrogeräten mit beispielloser Genauigkeit und Geschwindigkeit. Diese Inspektionsmaschine erzielt durch ihre leistungsstarke Optik und außergewöhnliche Beleuchtungsleistung einen hohen Durchsatz. Das Gerät ist entworfen, um Strahlgröße, Frequenz und Form auf einem Wafer oder einer Maske in verschiedenen Tiefen zu steuern, so dass es Daten sammeln und auswerten kann, um die Qualität des Produkts zu gewährleisten. Die CX 300 kann eine Vielzahl von kritischen Defekten wie Punktfehler, Linienkantenrauhigkeit, Restpartikel, Linienbreitenfehler usw. erkennen, um genaue Ergebnisse zu liefern. Der CX 300 ist in der Lage, die kleinsten und anspruchsvollsten Defekte über den gesamten Wafer zu erkennen. Es kann Wafer bis zu 32x32 cm Substratgröße und bis zu 1mm Dicke inspizieren. Das Werkzeug unterstützt auch eine Vielzahl von Substraten wie Silizium, Saphir, Quarz, Glas usw. Der CX 300 unterstützt mehrere fortschrittliche Optiken, darunter digitale holografische Mikroskopie, variable Tiefenbildgebung, Wafer-zu-Wafer-Messtechnik und digitale Bildgebung, um eine detaillierte Analyse von Defekten zu ermöglichen. Darüber hinaus ist es mit einer großen Auswahl an Beleuchtungskomponenten und fortschrittlichen Lichtverhältnissen ausgestattet, einschließlich einer optionalen Master-Beleuchtungskomponente, die genauere Abbildungsergebnisse gewährleistet. Das CX 300 verfügt über eine intuitive Softwareplattform, mit der Benutzer einfach navigieren, steuern und analysieren können, die von der Einheit gesammelten Daten ohne Schulungsbedarf. Es verfügt über eine fortschrittliche automatisierte Fehlerüberprüfungssoftware, die Fehler schnell erkennen, messen und klassifizieren kann. Die Software kann auch verwendet werden, um CAD-ähnliche Objekte zu erzeugen und umgebende strukturelle Aberration (SSA) von CD-Änderungen zu analysieren. Insgesamt ist AMAT SemVision CX 300 ein fortschrittliches Masken- und Wafer-Inspektionsmodell, das für schnelle und hochpräzise Ergebnisse entwickelt wurde. Es kann die Inspektion der höchsten Qualität helfen, komplexe Geräte und seine Software-Fähigkeiten bieten benutzerfreundliche und intuitive Bedienung, die das Gerät zu einem zuverlässigen Werkzeug für die Halbleiterherstellung macht.