Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision CX-DR #9172574 zu verkaufen
URL erfolgreich kopiert!
Tippen Sie auf Zoom
ID: 9172574
Wafergröße: 8"
Weinlese: 2000
Defect review system, 8"
EDS Capability
Image tilt capability
ADR (Auto defect review) capability
Inspection type: Optical
System:
Mainframe
Operator console
Component FFU
Pump rack
Pump 1&2
EDX Compressor
EPDU Interconnect cables
IP Hard drive
Octane hard drive
High current column liner installed (250p-amp)
80μm Liner tube
Image processor:
2.4 GHz
1400x1400 Pixels
Improved cooling
HVU-ELS Option (FOCI)
SECS II / GEM Communication interface
Side and top detectors
EDWARDS E2M80, E2M40 pumps
Voltage: 208 volts
Frequency: 50/60 hertz
Phase: 3+1
Current: 40A
2000 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision CX-DR ist eine fortschrittliche Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung. Es wurde entwickelt, um den anspruchsvollen Anforderungen der heutigen anspruchsvollen Halbleiterverpackungs- und Inspektionsanwendungen gerecht zu werden. Dieses System integriert sich in die AMAT renommierte Prober™ Platform und bietet unübertroffene Automatisierungs- und Geschwindigkeitsstufen. AMAT SemVision CX-DR bietet eine automatisierte Komplettlösung für die Masken- und Waferinspektion mit einer Kombination aus fortschrittlicher Optik, hochauflösender Bildgebung, Mustererkennung und leistungsfähiger Software, um eine höhere Genauigkeit zu erreichen. Die Einheit ist in der Lage, Partikel und Makel auf der Waferoberfläche zu erkennen, sowie Anomaliedefekte auf der Maskenoberfläche aufzudecken. Möglich wird dies durch die automatisierte Fehlerüberprüfungstechnologie (DR) der Maschine, die eine Kombination aus vier optischen Techniken verwendet: CCD-Bildgebung, Interferenztechnik, Fluoreszenzbildgebung auf der Rückseite und eine automatisierte Oberflächenmesstechnik. Diese Technologie ermöglicht auch eine automatische Fehlerklassifizierung, die alle Oberflächenanomalien genau sortieren und kategorisieren kann. Neben seinen Fehlererkennungsfunktionen umfasst APPLIED MATERIALS SemVision CX-DR auch eine Reihe intelligenter Funktionen, um schnellere und genauere Ergebnisse zu gewährleisten. Zu diesen Funktionen gehören die automatische Inspektionskalibrierung, ein einzigartiger Algorithmus, der eine Überbelichtung erkennen kann, und ein Proberfehlererfassungswerkzeug. Dieses Fehlererfassungs-Asset ist in der Lage, mögliche Fehler im Prüfprozess zu erkennen, was dazu beiträgt, den höchsten Ertrag bei Wafertests sicherzustellen. SemVision CX-DR ist mit einer benutzerfreundlichen Oberfläche konzipiert. Eine intuitive grafische Benutzeroberfläche (GUI) ermöglicht es dem Benutzer, das Modell schnell und einfach einzurichten, wobei bereits voreingestellte Konfigurationen verfügbar sind, um den Setup-Prozess zu beschleunigen. Das grafische Display ist Touch-fähig, was bedeutet, dass der Benutzer sein Inspektionsdisplay so anpassen kann, dass es seinen individuellen Bedürfnissen optimal entspricht. Insgesamt ist AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision CX-DR eine innovative und umfassende Wafer- und Maskeninspektionsausrüstung, die eine unvergleichliche Genauigkeit und Geschwindigkeit bietet. Die Kombination aus fortschrittlicher Optik, hochauflösender Bildgebung, Mustererkennung und leistungsstarken Softwarefunktionen macht es zu einem der begehrtesten verfügbaren Masken- und Waferinspektionssysteme.
Es liegen noch keine Bewertungen vor