Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision CX #9218625 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision CX Mask & Wafer Inspection Equipment ist eine umfassende und benutzerfreundliche Lösung für ein breites Spektrum an Masken- und Waferinspektionsbedürfnissen. Das System bietet leistungsstarke Mustererkennungs- und Fehlerortungsfunktionen, unterstützt die neuesten Photomaske- und IC-Technologien sowie eine breite Palette von Prozessabläufen. Es verfügt über ein robustes optisches Design für überlegene Bildanalyse, Empfindlichkeit und Auflösung. AMAT SemVision CX umfasst eine erweiterte Bildaufnahmeeinheit, die Vollfeldbilder von Masken- und Waferschichten sowohl im Einzelfeld- als auch im Mehrfeldbildmodus erfasst. Es bietet automatisierte Fehlererkennungsfunktionen, die eine breite Palette von Masken- und Waferdefekten wie CDs, Line-Edge-Rauheit, Linienbreitenvariationen, Überbrückung, Kontaktlöcher, Ätzschrumpfungen und mehr effektiv identifizieren. Die Maschine ist auch in der Lage, verschiedene Arten von Defekten in verschiedenen Umgebungen zu erkennen, wie durch Field-of-View (FOV), Registrierung und Multiplexing-Anwendungen. ANGEWANDTE MATERIALIEN SEM VISION CX umfasst auch leistungsstarke Fehleranalysefunktionen, mit denen Benutzer die zugehörigen Fehler schnell erkennen, klassifizieren, visualisieren und verstehen können. Es bietet auch quantitative Datenanalysen, die einen einfachen Fehlervergleich und -sortierung sowie erweiterte Tools zur Fehlerpriorisierung ermöglichen. ANGEWANDTE MATERIALIEN SemVision CX ist aufgrund seiner schnellen Vakuumdüsen-Handhabung, Probenpositionierung, automatisierten Fehlerisolierung und Überprüfungsfunktionen für maximale Effizienz ausgelegt. Es erleichtert auch die Rückverfolgbarkeit und den Datenspeicherbedarf, indem es benutzerdefinierte Vorlagenspeicher bereitstellt und Berichte schnell und genau erstellt. AMAT SEM VISION CX ist für maximale Produktivität konzipiert, mit einer integrierten, einfach zu bedienenden Software-Suite für Bildanalyse, Datensammlung, Reporting und Generierung von Ertragsparametern sowie Datenübertragung und Integration mit anderen Systemen im Werk. Insgesamt ist AMAT/APPLIED MATERIALS SEM VISION CX ein fortschrittliches Masken- und Wafer-Inspektionswerkzeug, das beispiellose Bildgebungs- und Fehleranalysefunktionen bietet und Benutzern die Möglichkeit gibt, eine breite Palette von Masken- und Waferdefekten bei beispiellosen Auflösungen zu erkennen und zu analysieren.