Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision CX #9227401 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision CX ist ein Wafer- und Maskenprüfgerät, das für die Herstellung fortschrittlicher Halbleiterbauelemente entwickelt wurde. Sein Hauptaugenmerk liegt auf der Gewinnung von Hochleistungsbildern und letztendlich höheren Ausbeuten durch die Verhinderung von ausbeutehemmenden Defekten. Das System kann Herstellungsfehler wie Partikelverunreinigungen, Kratzer, Zerkleinerungen und Musterabweichungen erkennen. Das Gerät wurde entwickelt, um die Produktqualität und den Ertrag zu verbessern, indem eine robuste Mustergenauigkeit in allen Produktkategorien gewährleistet wird, von Geräten bis hin zu Logikschaltungen. Die Maschine nutzt eine fortschrittliche digitale Bildgebungstechnologie, um subtile Fehler zu erkennen, die für das menschliche Auge unsichtbar sind. Das Tool unterstützt auch die automatisierte Fehlerkorrektur und den Austausch defekter Masken ohne manuellen Eingriff. Die Anlage verfügt über mehrere Inspektionsauflösungen, von grob bis ultra-fein, bietet überlegene Details und Präzision für verschiedene Anwendungen. Das Modell unterstützt auch eine breite Palette von kompatiblen Inspektionen für eine Reihe von Standard- und fortgeschrittenen Materialien, wie Kupfer, Aluminium, Photoresist, Wolfram und undurchsichtige Materialien. Seine bildgebende Technologie ist ideal für die Inspektion neuer Generationen von designintensiven Materialien. Das Gerät ist auch in der Lage mehrschichtige Inspektion, was bedeutet, dass Benutzer ganze Schichten eines Geräts in einem Durchgang überprüfen können. Dies kann die Prozesseffizienz erheblich verbessern. Physikalisch ist der AMAT SemVision CX kompakt und umfasst eine 6-Zoll-XY-Substratstufe mit einer 5-Achsen-Motorstufe, einen manuellen Radmonitor und einen 0,25-Zoll-Chromat-Stahlrahmen mit Teflon-Lagern. Dies ermöglicht ein automatisiertes Scannen des Gerätes während der Produktion. Das System umfasst auch eine fortschrittliche Optikverpackung mit einer semi-konfokalen Optikeinheit, einer hochgenauen Abbildungsoptik, einem hochgenauen Wafer-Bildstigmator für die Kollimation von einfallendem Licht und einer fortschrittlichen, lichtlosen Abbildungsmaschine für die automatisierte Fehlererkennung. Zusammenfassend ist APPLIED MATERIALS SEM VISION CX ein hochentwickeltes Masken- und Wafer-Inspektionswerkzeug mit automatisierter Fehlerkorrektur und Austausch defekter Masken, bildgebender Technologie zur Inspektion neuer Generationen designintensiver Materialien und einem fortschrittlichen Optikpaket zur hochgenauen Bilderfassung. Diese Ressource kann dazu beitragen, Produktionsrendite und Produktqualität zu verbessern, was letztlich zu Kosteneinsparungen und einem effizienteren Produktionsprozess führt.