Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision CX #9228098 zu verkaufen

AMAT/AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision CX ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die den hohen Anforderungen der Halbleiterherstellung gerecht wird. Es verfügt über eine hochdurchsatzreiche, kostengünstige Systemarchitektur, die die höchste Qualität der Bildgebung und Fehlererkennung bietet. Es bietet eine automatisierte, flexible und benutzerfreundliche Plattform zur Inspektion von Mustermasken und Wafern. Das Gerät besteht aus drei Komponenten: einer hochempfindlichen Bildaufnahmekamera, einer Masken- und Wafer-Inspektionsmaschine und einem speziellen Softwarepaket. Die Bildaufnahmekamera kann bis zu 8K-Pixel auflösen, sodass das Werkzeug hochauflösende, kontrastreiche Bilder für Zuverlässigkeit und Ertragsoptimierung erzeugen kann. Es ist mit Multilinsenoptik, verstellbaren Mini-Objektiven und einer softwaregesteuerten LED-Beleuchtung ausgestattet, um Bilder von selbst schwierigen Fehlern zu erfassen, die sonst übersehen würden. Die automatische Masken- und Wafer-Inspektion verfügt über eine fortschrittliche algorithmische Engine, die Fehler mit hoher Genauigkeit genau lokalisiert und identifiziert. Es ist auch in der Lage, eine breite Palette von Merkmalen wie Neigungswinkel, kritische Dimension und dreidimensionale Topographie für maximale Fehlererkennung zu erfassen. Das Modell ist mit einer intuitiven grafischen Benutzeroberfläche für eine schnelle und einfache Bedienung integriert. Darüber hinaus wird AMAT SemVision CX von einer Hochleistungs-Computerplattform mit einer leistungsstarken GPU-beschleunigten Bildverarbeitungsengine angetrieben. Das dedizierte Softwarepaket bietet leistungsstarke Analyse-, Sortier-, Vergleichs- und Speicherfunktionen. Es ist einfach konfigurierbar und aufrüstbar und unterstützt mehrere Arbeitsmodi, einschließlich automatisierter und manueller Modi, um die spezifischen Anforderungen des Prozessors zu erfüllen. ANGEWANDTE MATERIALIEN SEM VISION CX bietet eine robuste, präzise und kostengünstige Lösung für die Halbleiter- und Elektronikindustrie für die Masken- und Waferinspektion. Sie ermöglicht es Herstellern, die Fehlerquoten drastisch zu reduzieren und die Produktausbeute zu verbessern.