Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision CX #9249577 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision CX ist eine hochmoderne Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung, die für überlegene Musterfehler-Inspektionsgeschwindigkeit, Genauigkeit und Zuverlässigkeit entwickelt wurde. Durch ein fortschrittliches Beleuchtungssystem, einen 12-Megapixel-CCD-Sensor und einen leistungsstarken Embedded-Prozessor bietet dieses Gerät außergewöhnliche Wafer- und Maskeninspektionen mit hoher Empfindlichkeit. Die Maschine bietet fortschrittliche Wafer-Fehleranalyse, kritische Funktionsanalyse sowie Fehlerklassifizierung und -trending mit Durchsätzen von bis zu 50 Wafern pro Stunde. Zu den Merkmalen gehören hochauflösende Bildgebungs- und eingebettete Inspektionsalgorithmen, automatisierte Hintergrundmerkmalserkennung, Vollfeldfehleranalyse, Makro- und Mikromodul-Inspektion und manuelle Überprüfung der Inspektionsbilder mit schneller und einfacher Auswahl relevanter Daten. AMAT SemVision CX nutzt Dual-Laser-Design für absolute Bildgebung und Fehlererkennung, um eine gleichmäßige Fokustiefe und verbesserte Genauigkeit und Präzision zu gewährleisten. Das Dual-Laser-Design erhöht die Empfindlichkeit, Zuverlässigkeit und Genauigkeit des Inspektionsprozesses. Es verwendet fortschrittliche Objekt-/Kantenerkennungstechnologie, um Fehler auch in schwierigen Zuständen wie schlechtem Kontrast, hohem Dynamikbereich und einer Vielzahl von Fehlergrößen genau zu erkennen und zu identifizieren. Darüber hinaus bietet das Tool eine automatisierte Skalierung auf Werkzeugebene, sodass Bilder präzise und automatisch erfasst werden können. Durch den Einsatz eines leistungsstarken Bildprozessors ist das Asset in der Lage, hochauflösende Bilder schnell zu verarbeiten und Mustererkennung durchzuführen. ANGEWANDTE MATERIALIEN Das Modell SEM VISION CX bietet eine präzise Feinkornfehler-lokalisierte Inspektionsfunktion innerhalb des bildgebenden Chips, die hochpräzise Messungen und Fehlerabbildungen ermöglicht. Es bietet auch drahtlose Datenübertragungstechnologie, die den Bedarf an Desktop-Interaktion eliminiert und verbesserte Flexibilität und Komfort bietet. Abschließend ist SEM VISION CX eine fortschrittliche Wafer- und Maskeninspektionsausrüstung, die überlegene Empfindlichkeit, Genauigkeit und Zuverlässigkeit bietet. Mit seinen Hochgeschwindigkeitsprüfungen, präzisen Fehlererkennungsfunktionen und modernster Technologie ist dieses System die ideale Wahl für jede moderne Halbleiterfertigungslinie.