Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision CX #9293622 zu verkaufen

AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision CX
ID: 9293622
Wafergröße: 8"
Weinlese: 2000
DR SEM System, 8" 2000 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision CX ist eine Hochgeschwindigkeits-Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die entwickelt wurde, um fortschrittliche bildgebende Fähigkeiten in die Halbleiterindustrie zu bringen. Das System kombiniert fortschrittliche Optik, hochauflösende Kameras und ultraschnelle Bildverarbeitung für die Inspektion von Wafern und Siliziummasken auf Nanometerebene. AMAT SemVision CX ist in der Lage, kritische Chipdefekte wie Lithographie-Musterfehler, Partikelverunreinigungen, Restreste und Musteranpassungen zu erkennen, was optimale Fertigungsausbeuten ermöglicht. Das Gerät verwendet zwei separate Abbildungsmodule mit jeweils vier unabhängigen Kamerasystemen und Phasenkontrastoptiken. Diese bildgebenden Systeme sind in der Lage, detaillierte hochauflösende Bilder mit Geschwindigkeiten von bis zu 1000 Bildern pro Sekunde zu erzeugen. ANGEWANDTE MATERIALIEN Die SEM VISION CX Software basiert auf einer leistungsstarken, aber intuitiven Benutzeroberfläche, die eine manuelle Steuerung und Automatisierung der Wafer-, Masken- und Retikelinspektion ermöglicht. Die Maschinensoftware verfügt zudem über umfassende Kantenerkennungs- und OCR-Funktionen (optische Zeichenerkennung) sowie erweiterte OPC-Funktionen (optische Näherungskorrektur). Das Tool bietet auch intelligente Musterverfolgung und mechanische Ausrichtung des Wafers mit dem bildgebenden Element, um eine präzise Bildaufnahme und -analyse zu gewährleisten. Dadurch wird sichergestellt, dass das Modell auch kleinste Mängel in den anspruchsvollsten Produktionssituationen erkennen kann. Zur weiteren Beschleunigung der Datenanalyse umfasst die Software AMAT/APPLIED MATERIALS SEM VISION CX eine umfangreiche Bibliothek mit vorprogrammierten OPC-Checks und eine intelligente Prüfausrüstung auf Waferebene. Die Kombination aus hoher Geschwindigkeit, fortschrittlichen Funktionen und zuverlässigen Datenanalysen machen AMAT SEM VISION CX zum idealen System für die Inspektion und Optimierung von Halbleitermasken und Wafern. Diese Einheit kann in einer Vielzahl von Produktionsumgebungen eingesetzt werden und ermöglicht einen effizienteren und kostengünstigeren Herstellungsprozess, der letztlich zu erhöhten Erträgen und einer besseren Produktqualität führt.
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