Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2 #9215407 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9215407
Weinlese: 2003
Defect review system, parts machine
Includes:
Main body
Controller rack
Missing parts in controller rack:
PCB
Power supply
Computer
2003 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2 ist eine automatisierte Masken- und Wafer-Inspektionsanlage mit den neuesten Fortschritten in der Inspektionstechnik. Es nimmt ein dreidimensionales Bild des Mikrochips in hoher Auflösung und kann potenzielle Defekte und Ineffizienzbereiche schnell erkennen. Der Inspektionsprozess beginnt mit dem schnellen Drehen des Wafers auf einer elektronisch gesteuerten Plattform. Eine Infrarotkamera nimmt dann mehr als 6.000 Bilder des Spinnwafers auf. Diese Daten werden dann von den leistungsstarken KI-Algorithmen des Systems analysiert und interpretiert, was eine hochgenaue Darstellung seiner Komponenten und Bereiche möglicher Schwäche ermöglicht. Die KI-Software kann dann Fehler und Inkonsistenzen in der Struktur leicht lokalisieren, die dann bei Bedarf jeweils überprüft und repariert werden können. Je nach Kundenwunsch können die Geräteparameter angepasst werden, um in unterschiedlichen Auflösungen und Tiefen zu inspizieren. Der G2 unterstützt auch eine Vielzahl von verschiedenen Wafergrößen, so dass er für jede Branche oder Technologie geeignet ist. Das moderne Design des G2 sorgt für hohe Prozesseffizienz und beinhaltet eine vollständige Automatisierung, die den Anwendern die Flexibilität gibt, alle durchgeführten Inspektionen zu automatisieren. Die integrierte Software ist in der Lage, mehrere Wafer effizient zu handhaben und kann mehrere verschiedene Inspektionen an jedem Wafer durchführen. Seine Bildnavigationsmaschine ermöglicht es Benutzern auch, Bilder von möglichen Fehlern im Wafer schnell zu finden und zu überprüfen, was den gesamten Prozess verbessert. Durch die Verwendung seiner Maskierungs-, Ausrichtungs- und Defektfunktionen kann AMAT SemVision G2 dazu beitragen, Fehler zu minimieren und die Belastung der Produktionsteams erheblich zu reduzieren. Dank der Integration der neuesten KI-Technologie und der automatisierten Funktionen ist APPLIED MATERIALS SemVision G2 das perfekte Werkzeug, um sowohl Masken als auch Wafer effizient zu inspizieren und Fehler und Ineffizienzen schnell zu erkennen. Es bietet ein hohes Maß an Genauigkeit, Flexibilität und kann mehrere Inspektionen durchführen, um sicherzustellen, dass Endprodukte die Erwartungen und Spezifikationen des Kunden erfüllen. Das Tool hat sich als wertvolles Gut in der sich ständig weiterentwickelnden Halbleiterindustrie bewährt und ist eine der zuverlässigsten Inspektionslösungen auf dem Markt.
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