Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2 #9227745 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2 ist eine leistungsstarke Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung, die eine hochgenaue und schnelle Fehlererkennung und -charakterisierung ermöglicht. Das System ist mit den neuesten Inspektionstechnologien ausgestattet, die eine schnelle und effiziente Fehlererkennung und -ortung mit hoher Präzision für die Halbleiterbauelementinspektion auf Produktionsebene ermöglichen. AMAT SemVision G2 verfügt über ein aberrationskorrigiertes 4.5kV Rasterelektronenmikroskop (SEM), das in modernste Bildaufnahme- und Bildverarbeitungstechnologien integriert ist. Es wurde entwickelt, um überlegene bildgebende Leistung und Analyse für komplexe Fehler zu liefern. Das Gerät verwendet fortschrittliche Detektoren wie eine Vier-Kanal-Signalerkennung, einen hochempfindlichen Neigungsdetektor und eine Amplitudenkontrasttechnologie für eine überlegene Kontrastauflösung, die eine überlegene Bildtreue, Wiederholbarkeit und Zuverlässigkeit bietet. APPLIKATIONSMATERIALIEN SemVision G2 verfügt auch über einen Hochdurchsatz-Wafer-Überprüfungsmodus, mit dem Anwender Wafer effizient in Produktionsmengen einblenden und klassifizieren können. Zusätzlich zu den bildgebenden Funktionen ist SemVision G2 mit einer 3D-automatischen Ausrichtungsmaschine ausgestattet, die eine schnelle automatische Ausrichtung der Probe, Bilddrehung und Neigungserkennung ermöglicht. Darüber hinaus können Anwender 3D-Röntgenanalysen sowohl in Top-Down als auch in Seitenansichtsorientierung durchführen. Mit integrierten Bildanalyse-Anwendungen können Fehler präzise dimensioniert und mit Leichtigkeit klassifiziert werden. Darüber hinaus ist das Tool mit Multi-User-Zugriff konzipiert, so dass mehrere Benutzer das Asset gleichzeitig verwenden können, was eine erhöhte Produktivität und kürzere Zykluszeiten ermöglicht. AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2 bietet eine Kombination aus fortschrittlichen Bildgebungs- und Analysefunktionen zu einem erschwinglichen Preis und ist damit ein ideales Werkzeug für die Halbleiterbauelementinspektion. Integrierte Hard- und Softwaretechnologien bieten überlegene Bildauflösung und Kontrast für eine schnelle und genaue Fehleranalyse. Mit 3D-automatischer Ausrichtung, Mehrbenutzerzugriff und flexibler Bildverarbeitung erfüllt das Modell die anspruchsvollen Inspektionsanforderungen der Halbleiterindustrie.