Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2 #9269339 zu verkaufen

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AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G2
Verkauft
ID: 9269339
Defect review system.
AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2 Mask & Wafer Inspection Equipment ist die Spitze des Liniensystems für fortgeschrittene Bildgebung und Inspektion von integrierten Schaltungsmasken und Halbleiterscheiben. Diese vielseitige Einheit wurde entwickelt, um die höchsten Standards der Genauigkeit und Leistung zu erfüllen, die in der Lage sind, Masken-, Wafer- und JPEG-Bilder mit hoher Effizienz und Genauigkeit zu überprüfen. Die erweiterten Bildverarbeitungsfunktionen von AMAT SemVision G2-Maschine bieten dem Bediener die Möglichkeit, verschiedene Inspektionsparameter zu ziehen und abzulegen, wodurch dem Gerät eine beispiellose Benutzerfreundlichkeit hinzugefügt wird. Das Hauptmerkmal des Werkzeugs ist seine Fähigkeit, Fehler innerhalb der Konstruktionsbereiche einer Maske oder eines Wafers oder auf der eigentlichen Chipoberfläche zu erkennen. ANGEWANDTE MATERIALIEN SemVision G2 hat eine erweiterte Pixelauflösung von bis zu 1024 Pixel pro Zoll und erweiterte Fehlererkennungsalgorithmen, die Subpixelgrößen und kritische Fehler wie Vias und Partikel erkennen können. Darüber hinaus umfasst das Asset eine Bibliothek mit Mikroskopbildern, die dem Bediener zusätzliche Details und Funktionen wie 3D-Ansicht und Aufteilung von Filmen bietet. SemVision G2 ist auch mit einer integrierten automatisierten Phase-Shift-Scan-Technologie ausgestattet, mit der Bediener die Registrierung und Phasengenauigkeit von Masken schnell und genau überprüfen können. Neben dem anpassbaren Sichtfeld, der flexiblen Beleuchtung und den innovativen Funktionen zur Fehlerkategorisierung können Anwender kritische defekte Bereiche schnell erkennen und isolieren. Das Modell umfasst eine Reihe von Softwarepaketen, die eine schnelle und effiziente Fehlerüberprüfung, erweiterte Fehlerverfolgung, präzise Berichterstattung und anpassbare Bildanzeige ermöglichen. Die Software in Verbindung mit der intuitiven Benutzeroberfläche von AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G2 macht es für erfahrene und unerfahrene Bediener einfach zu bedienen. AMAT SemVision G2 Mask & Wafer Inspection Equipment wurde entwickelt, um die höchsten Standards der Bildgebung, Inspektion und Analyse auf dem Markt zur Verfügung zu stellen. Mit seiner hohen Auflösung, der automatisierten Erkennung von Merkmalen und der benutzerfreundlichen Schnittstelle ist das System die ideale Wahl für Halbleiterhersteller und integrierte Schaltungsdesigner.
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