Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 FIB #9264196 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 FIB (fokussierter Ionenstrahl) ist eine umfassende Masken- und Wafer-Inspektionsanlage. Dieses System verwendet Eigentums-optisch und Technologie der Abtastung der Elektronmikroskopie (SEM), um Spitzenoblate, Maske und andere flache Beispieloberflächenmetrologieschaufähigkeiten zu bieten. Zu den Highlights von SemVision G3 gehören: Überlegene Bildgebungsfunktionen und Fehlerlokalisierung. Die fortschrittliche SEM-Bildgebung ermöglicht eine detaillierte Bildgebung und Fehlerlokalisierung und trägt dazu bei, eine genaue Bewertung kritischer Strukturen und Defekte über eine breite Palette von Strukturen hinweg sicherzustellen. Umfassende Mängelklassifizierung. Das Gerät bietet eine umfassende Mängelklassifizierung für Wafer, Masken und andere flache Proben und ermöglicht eine zuverlässige Erkennung und Klassifizierung von Partikeln, Verunreinigungen und Strukturfehlern. Maschinensteuerung. SemVision G3 bietet Werkzeugsteuerung mit fortschrittlichen Software- und Benutzerprogrammierschnittstellen, die einen automatisierten Durchsatz und eine effiziente Nutzung des Assets ermöglichen. Automatisierte Indexierung und Fehlersortierung. Automatisierte Indexierungs- und Fehlersortierungsfunktionen, die eine schnelle Mustererkennung ermöglichen, bieten einen großen Einblick in den Fehlerprozess. Dies hilft, überlegene Fehlerentkernungsfunktionen zur Zeit der Einzelschuss-Analyse bereitzustellen. Integration mit AMAT und Third-Party Software. SemVision G3 ist in der Lage, in andere ANGEWANDTE MATERIALIEN und Software von Drittanbietern zu integrieren, was eine kostengünstige Datenanalyse und eine schnelle Produktvalidierung ermöglicht. Globale Unterstützung. Das Modell verfügt über ein umfassendes globales Supportnetzwerk, einschließlich Installation, Schulung und technischem Support. Dies hilft Benutzern, ihre Leistung zu maximieren und Ausfallzeiten zu minimieren. Abschließend ist AMAT SemVision G3 FIB eine hochentwickelte Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung, die überlegene Bildgebungs- und Fehlerlokalisierungsfunktionen, umfassende Fehlerklassifizierung, automatisierte Indexierung und Fehlersortierung bietet und die Integration mit anderen AMAT/APPLIED MATERIALS und DrittSoftware unterstützt. Das System verfügt zudem über ein hervorragendes globales Support-Netzwerk für maximale Leistung und minimale Ausfallzeiten.