Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 FIB #9287513 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 FIB ist eine Masken- und Waferinspektionsanlage, die zur Behebung von Konstruktionsfehlern auf Waferebene entwickelt wurde. Mit hochauflösenden Bildgebungs- und Inspektionsmöglichkeiten ist das System in der Lage, Fehler bis zu 2nm auf einem 350nm Abstand zu erkennen. Diese Einheit eignet sich sowohl für die technische Prozesssteuerung als auch für die Produktionsdatenanalyse. In Bezug auf Spezifikationen verwendet AMAT SemVision G3 FIB eine Ultima FIB/SEM-Säule und fortschrittliche Bildgebungstechnologien wie Resolution Targeting Automation Software, Optical Proximal Probing und TEM/SEM-Funktionen für höchste Genauigkeit, Flexibilität und Durchsatz. Es wird mit den neuesten Bildgebungs- und Analysetools geladen, einschließlich Fehlerüberprüfung, Bereichskrupellosigkeit und Bildtreue-Modulen. Diese Maschine ist mit einem einzigartigen ASIS-Board (Dual Stage Automation Scanning and Inspection Software) ausgestattet, das die Integration mehrerer Scanumgebungen ermöglicht. Diese Funktion sorgt für optimale Leistung in Bezug auf Produktionsgeschwindigkeit und Ertragsoptimierung. Zusätzlich bietet ein 820 Integrex FE-SEM motorisiertes Zentriergerät eine erhöhte Positioniergenauigkeit, verbesserten Durchsatz und Vielseitigkeit. ANGEWANDTE MATERIALIEN SemVision G3 FIB ist eine vielseitige Plattform, da es eine einfache Integration anderer Inspektionsprodukte von Drittanbietern ermöglicht. Infolgedessen können Sie damit mehrere Funktionen wie Automatisierungsausrichtung, programmierbare Staging, Fehlervorverarbeitung und schnelle Einzelbildausrichtung ausführen. Wie bei der Probengröße kann das Werkzeug bis zu einem 4-Zoll-Wafer verarbeiten. SemVision G3 FIB ist für den sicheren Betrieb konzipiert und bietet feldbasierte Sicherheitsoptionen wie Interlocks, Auto-Stop, Kontaminationsüberwachung und Auto-Alarme für eine einfachere Wartung und Verwaltung der Waferbearbeitung. Sein ergonomisches Design macht es bequem und einfach zu bedienen. Das Gerät verfügt über ein Touchscreen-Panel und eine benutzerfreundliche GUI, die helfen, verschiedene interaktive Funktionen zu navigieren. Insgesamt ist AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 FIB eine fortschrittliche und zuverlässige Lösung für Waferinspektionsaufgaben. Es bietet eine verbesserte Genauigkeit, Produktivität und Flexibilität und eignet sich für automatisierte Prozesssteuerung und Datenanalyse.