Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite #293821128 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite ist ein Masken- und Wafer-Inspektionsgerät zur Erkennung von Defekten in Halbleiterchips und integrierten Schaltungen. Es besteht aus einer hochauflösenden Abbildungsstufe, kombiniert mit präziser Beleuchtung und fortschrittlichen optischen Abbildungstechnologien. Das System kann verwendet werden, um Wafergrößen von 200mm bis 300mm mit einer Auflösung von bis zu 0,1 Mikrometer zu überprüfen. Das Gerät verwendet eine CCD-Bildgebungstechnologie, die funktioniert, indem jede einzelne Halbleiterstruktur und ihre Position auf dem Wafer erfasst wird. Die Maschine verwendet dann Algorithmen, um die Form der Funktionen mit einer fehlerfreien Vorlage zu vergleichen und sie mit einer zuvor akzeptierten Kern- oder akzeptablen Halbleiterregeln für ihre Leistung zu vergleichen. Eine Kamera wird auf einer präzisen Navigationsstufe direkt über dem Wafer montiert. Der abgebildete Wafer wird mit einem Satz LEDs beleuchtet, die Beleuchtungsstärke, Richtung und Polarisation genau steuern. Dieses Licht erweitert die Muster jeder einzelnen Struktur und hilft, Details zu definieren, die zu klein sind, um das bloße Auge zu sehen. Das Licht dient auch dazu, Fehler, integrierte Schaltungen und andere Merkmale aufzudecken sowie den Kontrast bei der Erkennung eventuell vorhandener Fehler zu erhöhen. Das bildgebende Werkzeug ermöglicht die gleichzeitige Hochgeschwindigkeitsbildgebung und -verbesserung sowie die Integration von Informationen mit hohem und niedrigem Kontrast, um optische Signaturen von potenziellen Fehlern zu erkennen. Das Asset wird von einer grafischen Benutzeroberfläche für mehrere Benutzer gesteuert. Auf diese Weise können mehrere Benutzer auf das Modell zugreifen und gleichzeitig Aufträge ausführen. Es ist möglich, gespeicherte und analysierte Aufträge in einem Dateiformat zu speichern, das von anderen AMAT-Softwareanwendungen verwendet werden kann. Das Gerät verfügt auch über anpassbare Werkzeuge und Prozesse sowie eine umfangreiche Bibliothek mit optischen Filtern, Algorithmen und Rezepten. Das System ist in der Lage, Mustertopologie und -defekte sowie Mehrfachmustermaskenanalyse, Prozessinstabilitätsanalyse und nicht-visuelle zusammengesetzte Flussanalyse automatisch zu erkennen. Insgesamt ist AMAT SemVision G3 Lite ein leistungsstarkes Werkzeug zur Erkennung und Untersuchung von Defekten in integrierten Schaltungen und Halbleiterchips. Es kombiniert Präzisionsbildgebung, fortschrittliche optische Technologie und ausgefeilte Algorithmen, um die Qualität dieser komplexen Komponenten zuverlässig zu gewährleisten.