Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite #9287515 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die die zuverlässige und effiziente Inspektion von mikroelektronischen High-End-Geräten ermöglicht. Das System nutzt Funktionen wie hochauflösende Quasipartikelbildgebung, Lichtfeldoptik und ein einzigartiges Mustererkennungsmodul, um überlegene Fehlererkennungs- und Berichtsfunktionen bereitzustellen. AMAT SemVision G3 Lite ist mit fortschrittlicher LED-Farbbeleuchtung ausgestattet, die es dem Gerät ermöglicht, Musterunterschiede sowohl in beleuchteten als auch in unbeleuchteten Proben genau zu messen, sodass Benutzer eine größere Auswahl an Materialien überprüfen können. Es verfügt auch über eine szintillierende Bildschirmprojektion, die 150nm Auflösungsbilder der Probe anzeigt und den Benutzern detaillierte Bilder zur Verfügung stellt, um bei der Erkennung von Sub-Mikron-Defekten zu helfen. Die automatische Messung der Maschine verwendet eine Vielzahl von Musteranalysetechniken, um Form-, Größen- und Graustufen-KEs zu erkennen, mit denen Benutzer die Eigenschaften der einzelnen KEs schnell und genau messen können. Die einzigartige automatische Messfunktion kann auch zur Identifizierung möglicher Fehler oder Musteränderungen verwendet werden, wodurch Benutzer Rückmeldung über die möglichen Ursachen des Fehlers erhalten. APPLIED MATERIALS SEMVISION G3 LITE wird auch mit einem Hochleistungsbildaufbereitungsmodul ausgestattet, Benutzer mit 2.5 Gigapixel/second Bildaufbereitung des Durchflusses versorgend. Mit diesem Bildverarbeitungsmodul können Anwender schnell Bilder von bis zu 10 Samples gleichzeitig mit einem minimalen Sichtfeld von 150 nm aufnehmen. Zusätzlich ist das Modul in der Lage, einen gesamten Wafer in weniger als einer Sekunde abzubilden. Das Tool bietet Anwendern auch verschiedene Analysetools wie Maskenausrichtung und Transistor-Bildgebung, so dass Benutzer Fehler genau erkennen und klassifizieren können. Mit Hilfe seiner leistungsstarken Analysefunktionen bietet SemVision G3 Lite Benutzern auch eine Vielzahl nützlicher Daten wie kritische Formen, Funktionsgrößen und Informationen auf Grauebene. Insgesamt ist AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite eine fortschrittliche Masken- und Wafer-Inspektion mit einer breiten Palette von Funktionen und Funktionen, was es zu einem idealen Werkzeug für die Inspektion von High-End-mikroelektronischen Chips und anderen komplexen Geräten macht. AMAT SemVision G3 Lite ist mit seinen hochentwickelten Bildgebungsfunktionen, leistungsstarken Analysefunktionen und einer schnellen Bildaufnahmegeschwindigkeit ein leistungsstarkes und zuverlässiges Tool zur Inspektion von Geräten jeder Größe und Komplexität.