Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite #9380470 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite ist eine Inspektionsanlage zur schnellen und genauen Analyse von Defekten an High-End-Masken und Wafern. Mit einer innovativen Suite von Bildgebungs-, Messtechnik- und Maskeninspektionswerkzeugen ist das System in der Lage, selbst kleinste Mängel zu erkennen und zu messen. Das Gerät ist mit einem Multiplexer für den gleichzeitigen Betrieb von Infrarot- und sichtbaren Mikroskopen konzipiert und bietet eine hervorragende Auflösung mit erhöhter Geschwindigkeit und Genauigkeit. Es paart sich mit AMAT SEMVision Controller zur präzisen Steuerung von Bildgebungsparametern und automatisierter Fehlererkennung. Die Maschine enthält auch einen DLA Group D Scan-Algorithmus für schnelle, wiederholbare Analyse und Abwärtskompatibilität mit älteren Softwareplattformen. Die ultrahochauflösenden bildgebenden Funktionen des Tools ermöglichen die genaue Erkennung von Oberflächenfehlern und Partikeln. Es schafft eine zuverlässige Basis, auf der vorhandene oder auftretende Fehlerquellen ausgewertet werden können, sodass Maskenhersteller die Ursache von Problemen schnell erkennen und entsprechend beheben können. Darüber hinaus umfasst die Anlage eine leistungsstarke Suite von Maskeninspektionswerkzeugen, einschließlich Mustererkennung, Kantenerkennung und Konturverfolgung, um höchste Genauigkeit zu gewährleisten. AMAT SemVision G3 Lite integriert darüber hinaus digitale SEM-Scan-, Mustererkennungs- und Kartendeting-Technologien mit niedriger Auflösung (DLA Group D). Diese Kombination liefert ein komplettes Fehlerbild und umfassende Bilder von Waferoberflächen, mit der Fähigkeit, Fehler zu identifizieren, zu charakterisieren und zu lokalisieren. Darüber hinaus ist das Modell für eine schnelle Einrichtung und Implementierung konzipiert, mit einer intuitiven Softwareschnittstelle, mit der Benutzer ihre Aufgaben schnell und einfach ausführen können. Darüber hinaus können die Geräte für eine schnelle und komfortable Analyse an vernetzte On-Wafer-Messtechnik-Systeme angeschlossen werden. Insgesamt bietet das System APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite Anwendern eine analytische, schnelle und zuverlässige Möglichkeit, Fehler an High-End-Wafern und Masken zu identifizieren, zu analysieren und zu charakterisieren. Durch den Einsatz fortschrittlicher Bildgebungs-, Messtechnik- und Maskeninspektionswerkzeuge eliminiert das Gerät Rätselraten und liefert präzise Ergebnisse mit unvergleichlicher Genauigkeit.