Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite #9382818 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 Lite ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die eine automatisierte, hochauflösende Inspektion von Photomasken, mikroelektronischen Geräten und Displays ermöglicht. Das System ist eine ideale Wahl für die Analyse kritischer Fehler, die mit Standard-optischen Inspektionssystemen schwer zu erkennen sind. Das Gerät verfügt über eine automatisierte, hochauflösende Bildverarbeitungsmaschine mit einer 10X-Drehbewegungsstufe, die eine Sichtfläche von bis zu 600mm x 600mm abdeckt. Das Werkzeug verfügt außerdem über einen digitalen Hochgeschwindigkeits-Signalprozessor, der eine schnelle Überprüfung mehrerer Teile in kurzer Zeit ermöglicht. Die Optik enthält ein optisches Mikroskop mit einstellbarer Fokusbasis. Die verstellbare Basis ermöglicht eine Tiefeneinstellung und ist auch mit einem motorisierten Synchronschrittmechanismus für genaue Bühnenbewegung ausgestattet. Die Software für die Bildverarbeitung bietet eine äußerst zuverlässige und genaue Erkennung von Defekten wie Partikelverunreinigungen, Kratzern, Nadelöchern, Variationen der Filmdicke und anderen Arten von Defekten. Die Software beinhaltet auch Bildanalysetechniken wie Mustererkennung, Clustering und Maßmessung. Die Software integriert sich in eine Triad MEA-Plattform zur schnellen Bilderfassung und -analyse. Das Modell enthält auch eine Mausschnittstelle, die Bühnenbewegungen, Zoom und Fokus steuert. Die Betreiber können auch auf eine webbasierte Remote-Anwendung zugreifen, um die Geräte zu verwalten, die Echtzeitleistung zu überwachen, Parameter zu aktualisieren und aufgenommene Bilder zu überprüfen und zu exportieren. Die fortschrittliche Messung, Genauigkeit und Leistungsfähigkeit des Systems machen es ideal für den Einsatz in Halbleiter-, FPD- und Photomasken-Produktionsumgebungen. Darüber hinaus kann das Gerät in der Forschung oder Entwicklung neuer Verfahren und Materialien sowie in der Qualitätskontrolle, der Waferinspektion und der dielektrischen Schichtinspektion eingesetzt werden.