Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 #9072082 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9072082
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2005
Defect review system, 12"
(2) Loadports with FOUP capable (TDK)
RFID Type: Loadports carrier reader
BROOKS Robot
Light source: SE-Gun tip
Resolution: 10 nm
Optical microscope
Automatic defect review
Automatic defect classification
Site inspection
Automatic defect localization
Beam tilt
Operator console
UPS
EPDU
FFU
Tool cover
Isolation block
2005 vintage.
AMAT AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 Mask & Wafer Inspection Equipment ist ein automatisiertes System zur Inspektion von Masken, Retikeln und Wafern sowie zur Erkennung von Fehlern und Nichtkonformitäten. Das Gerät bietet eine schnelle Wafer-Scan-Fähigkeit, die eine effiziente Erkennung von Defekten auf großen Wafern ermöglicht. Die Maschine basiert auf einem 6,25 Hochleistungsmegapixel CMOS Kamera, die auf einem Eigentumsschaukopf mit dem Unterstützen der Hardware und Software bestiegen wird. Es enthält auch eine hochgenaue motorische Stufe in das Werkzeug integriert mit präzise bearbeiteten Teilen für genaue und genaue Positionierung und Bewegung der Maske und Wafer während des Bildgebungs- und Inspektionsprozesses. Das Asset kann Defekte bis zu einer Größe von 1 Mikron erkennen und einen Bereich mit einem Durchmesser von bis zu 14 Zoll inspizieren. Es ist auch in der Lage, mehrere Wafer gleichzeitig zu inspizieren und kann sowohl Oberflächenfehler als auch Spurenfehler in der Maske oder dem Wafer erkennen. Darüber hinaus ist APPLIED MATERIALS AMAT SemVision G3 Mask & Wafer Inspection Model in der Lage, verschiedene Arten von Defekten zu erkennen, einschließlich Hohlräume, Zeilenumbrüche, fehlende Merkmale und Fehlorientierung. Das Gerät verfügt über eine programmierbare Bilderzeugungs- und Erfassungssoftware, mit der die Bildverarbeitung angepasst werden kann. Dazu gehört auch die Möglichkeit, die Inspektionseinstellungen anzupassen, um die Ergebnisse für die Anwendung zu optimieren. Die Software ermöglicht es dem Anwender auch, die erfassten Daten zu analysieren und detaillierte Berichte zu erstellen, die zur Dokumentation, Qualitätskontrolle und Prozessverbesserung verwendet werden können. AMAT/APPLIED MATERIALS APPLIED MATERIALS SemVision G3 Mask & Wafer Inspection System ist entworfen, um präzise und genaue Inspektionsleistung zu bieten, unter Berücksichtigung der Bedürfnisse der verschiedenen Fertigungsprozesse und Anwendungen. Das robuste Design und die benutzerfreundliche Software ermöglichen es Benutzern, Fehler schnell und genau zu überprüfen und zu erkennen, was eine effiziente und zuverlässige Produktion hoher Qualität ermöglicht.
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