Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 #9261314 zu verkaufen

AMAT/AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 ist eine neue Generation von Masken- und Wafer-Inspektionsgeräten, die Chipherstellern helfen sollen, ihre Prozessausbeuten zu verbessern. Es verwendet eine Reihe fortschrittlicher Machine-Vision-Technologien, um komplexe Strukturen und Schichten jeder Maske und jedes Wafers genau zu bewerten, was eine schnellere und zuverlässigere Prozesskontrolle ermöglicht. Das System bietet detaillierte Ansichten von Defekten auf einem Nanometermaßstab und trägt zur Beschleunigung und Verbesserung der Ertragsoptimierung bei. AMAT SemVision G3 ist mit einer Reihe automatisierter Bild- und Analysefunktionen ausgestattet. Es verwendet optische Systeme mit hoher Vergrößerung für detaillierte Musteranalysen, einschließlich der Fähigkeit, auf Nanoebene zu überprüfen. Es erfasst und meldet Defekte, wie Mikrohohlräume, Beulen und Kratzer, auf einer Reihe von Materialien wie Galliumarsenid und Ferrit. Dies ermöglicht es den Betreibern, Fehlerquellen schnell genau zu verfolgen und zu beseitigen. Das Gerät basiert auf einer umfassenden Suite von Hardware-, Software- und Datenverwaltungstools. Seine integrierten Sensoren ermöglichen eine Vielzahl von Inspektionsmethoden, einschließlich Dunkelfeld, helles Feld, schräg, off-axis und helle Feld unterstützt hochauflösende Bildgebung. Um die Analyse und Berichterstattung zu erleichtern, ist die Maschine mit den neuesten Technologien der Bildverarbeitung und Mustererkennung integriert, einschließlich 3D-Mustererkennung, Objektklassifizierung und flexiblen automatisierten Modellen. ANGEWANDTE MATERIALIEN SemVision G3 bietet auch eine Reihe von Qualitätskontrollen und statistischen Prozesskontrollen. Dazu gehören Fehlererkennung, Fehlermaskeninspektion und Partikelbeurteilung. Das Tool bietet auch eine Reihe von Fehleranalyse-Tools, die den Betreibern datengesteuerte Einblicke bieten, die eine fundierte Entscheidungsfindung ermöglichen. Darüber hinaus bietet SemVision G3 On-the-Fly-Wafer-Matching und Wafer-Grading-Services. Diese Dienste verwenden Echtzeit-Scan-Daten, um Muster zu bewerten, Anomalien zu identifizieren und Ergebnisse mit erwarteter Leistung zu vergleichen. Dies hilft den Herstellern, die Qualität ihrer Produkte schnell einzuschätzen und zu optimieren. Insgesamt bietet AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 eine integrierte, leistungsstarke Masken- und Wafer-Inspektion, die Chipherstellern hilft, ihre Prozesserträge zu verbessern. Seine erweiterten Funktionen, einschließlich Musteranalyse, Fehlererkennung und -analyse, Wafer-Anpassung und -Grading und Fehleranalyse, machen es zu einem wertvollen Werkzeug zur Verbesserung der Produktionsqualität.