Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 #9351468 zu verkaufen

AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3
ID: 9351468
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2007
Defect review system, 12" 2007 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 Maske und Wafer Inspection Equipment von AMAT ist ein vollautomatisiertes und integriertes System zur Inspektion von Masken und Wafern. Es ist ein wichtiger Bestandteil jeder Full-Service, Produktion Lithographie-Anlage. Das Gerät bietet sowohl 1- als auch 2-seitige Inspektionen, die eine vollständige Masken- und Waferinspektion ermöglichen. Die doppelseitige Inspektionsfunktion reduziert die Gesamtbetriebskosten und ermöglicht die Vereinheitlichung der Masken- und Waferdaten. AMAT SemVision G3 verwendet optische und 3D-visuelle Analyse, um eine umfassende Analyse eines Musters auf einer Waferoberfläche durchzuführen. Es bietet integrierte hohe Leistung, hohe Auflösung und Sondierung in hohen und niedrigen NA-Anwendungsmodi. Zu den Hauptmerkmalen der Maschine gehören ein 1010 hochpräziser Stufen- und Linearmotorantrieb, ein 0,9-nm-Auflösungs-Piezo-Scanner, ein 1600-mm-Sichtfeld, eine 810-nm-FOV-Framing-Option und eine Hintergrundausscheidungs-Scan-Option. Das Tool ist mit einem automatisierten Masken- und Wafer-Aligner, einem High-Speed-Controller und einem erweiterten Inspektionssoftware-Paket ausgestattet. ANGEWANDTE MATERIALIEN SemVision G3 hat eine niedrige Fehlalarmrate und bietet eine effiziente Möglichkeit, Fehler in Halbleiterbauelementen zu messen und zu identifizieren. Es unterstützt eine breite Palette von kritischen Fehlertypen, einschließlich Partikel, Partikel auf der Rückseite, Kontaktlöcher, Gateline kritische Dimensionen und Overlay. Das Asset enthält auch eine Bibliothek mit proprietären Routinen, mit denen Fehler automatisch erkannt und behoben werden können. SemVision G3 bietet eine zuverlässige und intuitive Benutzererfahrung, mit der Bediener Fehler an Masken und Wafern schnell erkennen und beheben können. Es ist einfach zu installieren, zu konfigurieren und zu bedienen, sodass Ingenieure und Betreiber schnell verstehen können, wie das Modell verwendet wird. Die Ausrüstung ist für den Einsatz in den anspruchsvollsten Halbleiterproduktionsumgebungen konzipiert, um qualitativ hochwertige Ergebnisse zu erzielen und eine hohe Ertragsleistung zu erzielen. Abschließend ist AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 Mask and Wafer Inspection System von APPLIED MATERIALS eine äußerst zuverlässige und kostengünstige Lösung für die Masken- und Waferinspektion. Es bietet eine Vielzahl von Schlüsselmerkmalen und Vorteilen, die es zu einer idealen Wahl für Halbleiterherstellungsprozesse machen.
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