Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G3 #9389441 zu verkaufen

Es sieht so aus, als ob dieser Artikel bereits verkauft wurde. Überprüfen Sie ähnliche Produkte unten oder kontaktieren Sie uns und unser erfahrenes Team wird es für Sie finden.

ID: 9389441
Weinlese: 2006
Defect review system Power box Computer Non-functional parts: Dry pump of load lock chamber EDX IP Computer 2006 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G3 ist eine Präzisionsmaske und Wafer Inspektion Ausrüstung. Das System soll sicherstellen, dass alle Photomasken und Wafer einwandfrei nach Herstellerangaben gefertigt werden. Die hochpräzise Einheit verfügt über alle neuesten Funktionen, die für eine genaue Inspektion erforderlich sind, z. B. eine automatisierte Waferausrichtmaschine, ein einstellbares Beleuchtungswerkzeug und SEM-Technologie zur Fehlererkennung. Die Anlage wurde entwickelt, um eine Vielzahl von Konfigurationen und Technologien wie Silizium-on-Isolator (SOI) -Technologie, Strained Silicon-Technologie und 250-nm und kleinere Funktionsgrößen für ultrahochauflösende Bildgebung aufzunehmen. Das Modell nutzt intelligente adaptive Scanning-Technologie (IAST), um die Präzision des SEM-Bildgebungsprozesses zu optimieren. Dies gewährleistet höchste Leistungsgenauigkeit während des Prozesses und erkennt die kleinsten Fehler schnell und effizient. AMAT SemVision G3 beinhaltet auch eine Fehlerüberprüfungsstation, an der mehrere Fehlerbilder einfach vom Benutzer ausgewertet werden können. Bilder können Seite an Seite überprüft werden, zusammen mit detaillierten Informationen für die richtige Datenanalyse. Bordfehlerreparatursysteme stehen zur weiteren Verbesserung der Bild- und Signalanalyse zur Verfügung. Die Ausrüstung ist einfach zu bedienen, mit einer einfachen Benutzeroberfläche. Es ist mit fortschrittlicher Steuerungssoftware entworfen, so dass alle Einstellungen, Funktionen und Protokolle in Echtzeit angepasst werden können, was eine kundenspezifische und optimierte Wafer-Inspektionsleistung ermöglicht. ANGEWANDTE MATERIALIEN SemVision G3 bietet die Flexibilität des Hochgeschwindigkeits-Scans und der manuellen Überprüfung mit niedriger Geschwindigkeit sowie die Möglichkeit, Arbeitsergebnisse zu speichern und zu überprüfen. Das integrierte Datenerfassungsinstrument erfasst die Systemparameter, um die vollständige Erfüllung der Kundenbedürfnisse sicherzustellen. SemVision G3 ist ein wirksames Werkzeug zur Gewährleistung der Zuverlässigkeit und Genauigkeit der kritischen Prozesse der Masken- und Waferfertigung. Das Gerät ermöglicht es Kunden, Ausfallzeiten zu minimieren, Erträge zu verbessern und die Kosten für Wafer-Inspektion und -Fertigung zu reduzieren.
Es liegen noch keine Bewertungen vor