Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G4 #9408877 zu verkaufen

ID: 9408877
Weinlese: 2010
Defect review system 2010 vintage.
AMAT (APPLIED MATERIALS) AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G4 ist eine hochentwickelte Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung, die beispiellose Leistung sowohl bei der Fehlererkennung als auch bei der Signalintegritätsanalyse liefert. Der G4 verwendet fortschrittliche Signalverarbeitungs- und Bildgebungstechnologie, um Masken und Wafer mit höchster Genauigkeit genau zu analysieren und zu inspizieren. Dieses System erfasst zerstörerische und zerstörungsfreie Bilder von Masken und Wafern und erfasst gleichzeitig Bildbreiten- und Bildlängendaten von Masken und Wafern. AMAT SemVision G4 bietet zeilenweise hochauflösendes Scannen von Masken und Wafern über eine breite Reichweite von Fehlern, die von den kleinsten bis zu den größten kritischen Merkmalen reichen. Es bietet auch spektrale Abbildungen von Proben mit breitbandiger oder schmalbandiger Beleuchtung. Die Einheit kann einkristalline, polykristalline sowie nichtkristalline Materialien/Vorrichtungen nachweisen. Es bietet auch Fehlerdichtemessung und Klassifizierung Fähigkeiten. Außerdem ermöglichen die fortgeschrittenen Reihenmetrologieautomationsfähigkeiten des G4 ihm, Halbleiter prozessbezogene Defekte ohne menschliches Eingreifen schnell zu scannen, zu messen, und zu identifizieren. Es bietet dem Anwender erweiterte bildgebende Funktionen für die Erkennung und Dimensionsanalyse von Strukturen mit kleinen Merkmalen, wie Düsenpads und Lötstößen. Das G4 bietet auch fortschrittliche Software-Tools zur vorausschauenden Diagnose, die eine schnelle Fehlerlokalisierung ermöglichen. ANGEWANDTE MATERIALIEN SemVision G4 bietet erweiterte computergestützte Fehlererkennung (CADR) Funktionalität. Es verwendet fortschrittliche Algorithmen, um Fehler mit wiederholbarer Genauigkeit zu erkennen und kann Fehler je nach Form, Größe, Farbe, Kontrast, Intensität usw. klassifizieren und/oder qualifizieren. CADR beseitigt die Notwendigkeit einer mühsamen manuellen Fehlersortierung und identifiziert potenziell kritische Fehler. Insgesamt ist SemVision G4 eine leistungsstarke und effiziente Masken- und Wafer-Inspektionsmaschine, die höchsten Ansprüchen an Genauigkeit, Geschwindigkeit und Zuverlässigkeit gerecht wird. Es ist ein ideales Werkzeug für Fehleranalyse, Inspektion, Produktionstest und Prozessverbesserung.
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