Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G5 #9278063 zu verkaufen

AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision G5
ID: 9278063
System.
AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision G5 ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage zur Inspektion und Überprüfung von Halbleiterchips. Seine Eigenschaften helfen bei der schnellen Identifizierung und Behebung ertragsbegrenzender Mängel. Es wird von Halbleiterherstellern verwendet, um Fehler zu identifizieren und zu beseitigen, bevor das Endprodukt in Produktion geht. AMAT SemVision G5 inspiziert Masken und Wafer auf kleine Fehler und Mängel in Form von Partikeln, Kratzern, Oberflächenlücken oder anderen Unregelmäßigkeiten. Es ist mit einem hochauflösenden Bildgebungssystem und leistungsfähiger Software ausgestattet, die wertvolle Informationen für kritische Prozessentscheidungen bereitstellt. Dieses Gerät ist ferner mit einer automatisierten Fehlererkennungs- und Analysemaschine ausgestattet, die eine maximale Genauigkeit und Zeiteffizienz im Fehlerüberprüfungsprozess gewährleistet. Das Tool ist leistungsstark und schnell und bietet unübertroffene Datenerfassungsfunktionen. Es können Bilder von bis zu vier Maskenlayouts und vier Wafer-Rundbildern aufgenommen werden. Darüber hinaus bietet es sowohl eine vollautomatische Fehlerklassifizierung als auch eine übergeordnete Entscheidungsfindung in Kombination mit Analysefunktionen. Das Asset bietet darüber hinaus überlegene Datenmanagement- und Reporting-Funktionen. Dazu gehören schnelle Datenerfassung, Filterung, Postdatenspeicherung und organisierte Datenarchivierung. ANGEWANDTE MATERIALIEN SemVision G5 ist schnell und zuverlässig und bietet umfangreiche automatisierte optische Fehlerinspektionsmöglichkeiten, um ertragsbegrenzende Mängel schnell zu erkennen und zu beheben. Es ist einfach zu installieren und verwendet eine leistungsstarke Suite von Software, um einen umfassenden Fehlerüberprüfungsprozess zu erstellen. Durch die Nutzung seiner Datenmanagement- und Reporting-Funktionen kann das Modell sicherstellen, dass auf wertvolle Erkenntnisse schnell zugegriffen und genutzt werden kann. Mit dieser Ausrüstung können Hersteller sicher sein, dass etwaige Mängel oder Probleme mit ihren Chips identifiziert und adressiert werden, bevor das Produkt in die Massenproduktion eintritt.
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