Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision #293750168 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die es Halbleiterherstellern ermöglicht, Masken, Wafer und andere prozessbezogene Materialien schnell und genau zu überprüfen. Das System nutzt eine Vielzahl von bildgebenden Technologien, um Fehlererkennung, optische Inspektions- und Messtechnik-Messungen und eine integrierte Softwareplattform zur Unterstützung der Verarbeitung und Analyse von Daten bereitzustellen, wodurch es ideal für Prozessoptimierung, Prozesskontrolle und Ertragsverbesserung ist. AMAT SemVision Inspektionseinheit ist in der Lage, Bilder in einer Vielzahl von Formaten wie Hellfeld, 4-Quadranten und Dual-Wellenlänge zu erfassen und zu verarbeiten. Es arbeitet auch mit einer Reihe von Bildanalyse-Tools, einschließlich Partikelinspektion, Kantenanalyse, Zeilenscannen und Farbgebung für optimierte RGB-Profilierung. Die Inspektionsmaschine verfügt über eine hochauflösende CCD-Kamera mit einem hochauflösenden CCD-Chip und einer Vielzahl von Optiken, um verschiedene bildgebende Funktionen bereitzustellen. In Bezug auf Genauigkeit und Zuverlässigkeit ist das Tool APPLIED MATERIALS SemVision mit fortschrittlichen Mustererkennungs- und Deep-Learning-Algorithmen sowie fortschrittlichen Algorithmen zur genauen Fehlererkennung und Messtechnik ausgestattet. Die maschinellen Lerntechniken können auch verwendet werden, um das Asset zu trainieren, um verschiedene Merkmale unterschiedlicher Prozessmaterialien zu identifizieren und zu kategorisieren und eine umfassende Bildvergleichsbibliothek bereitzustellen. Das SemVision-Modell kann auch die Kantenerkennung durchführen und die Größe und Form verschiedener Merkmale auf einer Maske oder Waferoberfläche sowie eine automatische Fehleranalyse zur Verbesserung der Ertragscharakterisierung messen. Alle erfassten Bilddaten werden in ein Dateiformat konvertiert, das mit der Software AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision Suite kompatibel ist und eine gründliche Fehlerverwaltung und Rückverfolgbarkeit ermöglicht. Darüber hinaus bietet die Software leistungsstarke Tools zur Fehlercharakterisierung und topologischen Analyse sowie automatisierte Fehlerklassifizierung und Datenvisualisierungsmöglichkeiten. AMAT SemVision ermöglicht auch die Wartung von Masken- und Waferprozessen, da es eine breite Palette von Tools zur Prozessüberwachung, Multi-Port- und Zyklusanalyse bietet. Abschließend ist APPLIED MATERIALS SemVision eine fortschrittliche Inspektionsausrüstung, die sich ideal für Halbleiterhersteller eignet und Funktionen wie automatisierte Fehlererkennung und -analyse, Bildverarbeitung und integrierte Prozessüberwachung bietet und die Produktausbeute verbessert. Mit seinen fortschrittlichen Bildgebungs- und Softwarefunktionen ist das SemVision-System sicherlich eines der erstklassigen Masken- und Wafer-Inspektionssysteme auf dem Markt.