Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision #293762276 zu verkaufen

ID: 293762276
Wafergröße: 8"
Weinlese: 2009
Defect review system, 8" Controller 2009 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision Mask & Wafer Inspection Equipment ist eine innovative und leistungsstarke Bildgebungs- und Inspektionslösung für Photomasken- und Waferanwendungen in der Halbleiterindustrie. Das System bietet in Echtzeit fehlerfreie Bilder von Masken und Wafern, die eine erweiterte Fehlererkennung und 100% automatisierte Fehlererkennung auf Pixelebene ermöglichen. Diese umfassende Einheit verfügt über fortschrittliche Beleuchtungstechnologie, eine benutzerfreundliche Oberfläche und eine Vielzahl von Bilderfassungs- und Analysefunktionen. Die Maschine wird mit einer hochwertigen Farbkamera geliefert, die ausgezeichnete Bildauflösung, Dynamikbereich und Rauscheigenschaften bietet und eine Vielzahl von Bildgebungstechniken für eine breite Palette von Funktionsgrößen ermöglicht. Ein leistungsstarkes, automatisiertes Beleuchtungswerkzeug bietet Beleuchtung für verschiedene Arten von Defekten und eine fortschrittliche Steuerung für die integrierte Echtzeitsteuerung der gesamten Anlage. Das Modell verfügt auch über eine intuitive, grafische Benutzeroberfläche für einfache Einrichtung und Steuerung sowie eine Vielzahl von Bildanalyse- und Visualisierungstools zur Fehlererkennung und -analyse. AMAT SemVision Equipment hat sich als unschätzbares Werkzeug in der Halbleiterwelt erwiesen. Es kann Fehler jeder Größe und in jeder Schicht erkennen und gewährleistet 100% Inspektion von Masken und Wafern mit höchster Empfindlichkeit und Genauigkeit. Erweiterte Bildverarbeitungsfunktionen ermöglichen es dem Bediener, den Fehlertyp schnell zu bestimmen, und das System enthält ein leistungsstarkes Fehlerklassifizierungsmodul für automatisierte Fehlerkennung und Klassifizierung. Dies sorgt für Bilder höchster Qualität und führt zu höheren Ausbeuten an guten Geräten. Das Gerät verfügt auch über eine Vielzahl von automatisierten Bildnaht- und Rekonstruktionsalgorithmen sowie automatische Charakterisierungs- und Maskenhandhabungstechnologien, um eine genaue Messung von Strukturen in Masken und nicht-flachen Oberflächen zu gewährleisten. Die integrierte Maskenhandhabungstechnik ermöglicht es der Maschine, Masken mit bis zu 480 000 Defekten in weniger als 1 Minute automatisch zu handhaben, auszurichten und abzulehnen. ANGEWANDTE MATERIALIEN SemVision Mask & Wafer Inspection Tool ist ein leistungsfähiges und zuverlässiges Werkzeug für die Halbleiterindustrie und bietet eine genaue und zuverlässige Fehlererkennung und -analyse. Das benutzerfreundliche Design und die intuitive grafische Oberfläche sorgen für eine einfache Bedienung, während erweiterte Bildanalyse und Fehlerklassifizierung eine umfassende Lösung für Anwendungen zur Masken- und Waferinspektion bieten. Diese Anlage ist ein Muss für jeden Halbleiterhersteller und liefert Bilder und Ergebnisse höchster Qualität für höhere Erträge und bessere Erträge.
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