Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS SemVision #9170210 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage zur Inspektion und Annahme oder Ablehnung von Halbleiterbauelementen. Es verwendet fortschrittliche optische Bildgebungs- und Mustererkennungstechnologie, um Waferstrukturen, Defekte und prozessbezogene Merkmale automatisch mit hoher Genauigkeit zu überprüfen, zu messen und zu klassifizieren. Das System wurde entwickelt, um eine automatische elektrische Prüfung der Komponenten durchzuführen, einschließlich Strom-Spannungs-Kurven, CV-Messungen, ESD, Leckage und Ausbeute Analyse. AMAT SemVision verfügt über ein individuelles Layout-Design mit dualstage Bedienstation bietet Benutzer Ergonomie, zusammen mit automatisierten Generierung von genauen Defekten und Prozessinformationen. Darüber hinaus unterstützt das Gerät einzigartige Messalgorithmen wie analytische Kurvenanpassung und fortschrittliche Kolorimetrie sowie die Extraktion von Funktionen mit künstlicher Intelligenz. Die Maschine ist in der Lage, Wafer von 10mm bis 500mm mit konsistenter Genauigkeit zu verarbeiten, da sie eine hochauflösende Bildgebung sowie eine hochpräzise Prozessmessung bietet. Es besteht aus einer modularen, mehrkanaligen Inspektionsstation und einem automatisierten Fehlerklassifizierungsmodul. Andererseits ist die Inspektionsstation mit einer Quad-il-Optik ausgestattet, die mehrere Bilder gleichzeitig ausgibt und mit einer CCD-Kamera, die diese Bilder erfasst. Darüber hinaus verfügt APPLIED MATERIALS SemVision über eine umfassende Softwareplattform, die für die Erzeugung und Verarbeitung hochauflösender Bilder sowie die intelligenten Algorithmen zur Mustererkennung und Fehlerklassifizierung verantwortlich ist. Seine grafische Benutzeroberfläche ermöglicht es dem Bediener, das Tool einfach und intuitiv zu konfigurieren und aus mehreren vorprogrammierten Inspektionen mit Assistenten, grafischen Darstellungen oder erweiterten Anpassungstools auszuwählen. SemVision bietet einen umfassenden Workflow, mit dem Ergebnisse schnell abgerufen, überprüft und gemeinsam genutzt werden können. Darüber hinaus wird das Asset durch mehrere Tools von Drittanbietern unterstützt, wie Offline-Inspektoren, EDA-Systeme oder Prozesskontrollmonitore. Abschließend ist AMAT/APPLIED MATERIALS SemVision ein sehr zuverlässiges Masken- und Wafer-Inspektionsmodell, das in der Lage ist, automatische elektrische Tests durchzuführen und genaue Ergebnisse mit hohem Durchsatz zu liefern. Dank des modularen Designs und der intuitiven Benutzeroberfläche können Halbleiterbauelemente schnell konfiguriert, analysiert und akzeptiert werden.