Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 200 #293759036 zu verkaufen

AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 200
ID: 293759036
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2006
Brightfield inspection system, 12" 2006 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 200 ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die ausgefeilte Technologie kombiniert, um qualitativ hochwertige Bildgebung von Filtrationsmustern im Nanometermaßstab zu erzeugen. Das System ist mit einer erweiterten Elektronenvergrößerungseinheit ausgestattet, um die kleinsten Strukturen und Defekte genau zu überprüfen und zu analysieren. AMAT UVision 200 ist ein automatisiertes Rasterelektronenmikroskop (SEM). Die Maschine bietet eine Reihe von Vergrößerungen von 15x bis 200.000 Mal und verfügt über ein leistungsfähiges, digitales Bildgebungswerkzeug und eine hochauflösende digitale Farbkamera. Diese bildgebende Anlage ermöglicht die Inspektion und Analyse von Probenmerkmalen und Fehlern, wie Metalllinien und Hohlräume, im Nanometermaßstab. Das Modell wird durch ein proprietäres Softwarepaket angetrieben, das eine schnelle, genaue und automatisierte Prüfung von Geräten ermöglicht. Der Inspektionsprozess ist hocheffizient und umfasst automatisierte Geräteerkennung, Bilderfassung, automatische Bildanalyse, statistische Echtzeit-Analyse und den Vergleich von Bilddaten mit vorgegebenen Kriterien. Die Softwareschnittstelle ist äußerst benutzerfreundlich und Benutzer können ihre Einstellungen schnell und einfach konfigurieren, Daten erfassen und vergleichen sowie benutzerdefinierte Berichte erstellen. ANGEWANDTE MATERIALIEN UVision 200 Inspektionsgeräte bieten eine Reihe von präzisen Messmöglichkeiten, einschließlich Messungen kritischer Abmessungen (CD), Overlay-Ausrichtung und Bildnähten. Darüber hinaus ist das System in der Lage, ultrahochauflösende Messungen durchzuführen, und kann selbst kleinste Fehler bis hin zur Submikron-Genauigkeit erkennen. Zusätzlich zu seinen leistungsstarken bildgebenden Fähigkeiten ist UVision 200 in der Lage, die Probenoberfläche ultraviolett (UV) zu bestrahlen. Dieses Merkmal wird für Anwendungen wie Spannungsmessung, topographische Deformationsanalyse und die Analyse der organischen Filmkombination verwendet. AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 200 ist eine fortschrittliche, leistungsstarke Wafer- und Maskeninspektionseinheit. Die Maschine eignet sich gut für Anwendungen, die schnelle, präzise Messfähigkeiten wie Messungen kritischer Abmessungen (CD), Überlagerung, Bildnähte und die Erkennung von Sub-Mikron-Defekten erfordern. Das Tool ist einfach zu bedienen und bietet eine Reihe fortschrittlicher Funktionen, wie automatisierte Geräteerkennung, statistische Echtzeit-Analyse und die Fähigkeit, UV-Strahlung durchzuführen.
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