Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 3 #293778019 zu verkaufen

ID: 293778019
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2008
Brightfield inspection system, 12" 2008 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 3 ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung, die entwickelt wurde, um Fehler auf fortgeschrittenen Wafern und Masken genau zu erkennen, zu identifizieren und abzubilden. AMAT UVision 3 ist ein leistungsstarkes Werkzeug in der fab, bietet hochauflösende Bildgebung und umfassende Analyse von Wafer- und Maskenproben, um qualitativ hochwertige Produkte zu gewährleisten. Das System umfasst eine vollständige Palette von Bildgebungs- und Analysefunktionen, um alle Arten von Kontaminationen, Defekten und anderen Funktionen zu identifizieren und zu quantifizieren. Das Gerät verfügt über eine Hochleistungs-Bildverarbeitungsmaschine bestehend aus hochauflösenden Optik- und Beleuchtungssystemen, um die Bilder zu erfassen, und eine spezialisierte Datenerfassungsmaschine, um die Bilder mit hoher Treue zu erfassen. Darüber hinaus umfasst das Tool spezielle bildgebende Algorithmen, um eine optimale Bildqualität zu gewährleisten. ANGEWANDTE MATERIALIEN UVision 3 beinhaltet einen umfassenden Satz von Bildanalyse und Fehlerabstoßungsfunktionen, um Fehlerstellen aus komplexen Konstruktionen abzubilden. Die Analysefunktionen umfassen Fehlerinspektion, Segmentierung, Bildsegmentierung, Mustererkennung und Musteranpassung. Das Asset verfügt außerdem über eine AutoAlign-Funktion, um die Genauigkeit zu verbessern und die Rüstzeiten zu verkürzen. Neben der Fehlererkennung bietet UVision 3 eine Reihe fortschrittlicher Funktionen zur Verbesserung der Wafer- und Maskenproduktionserträge, einschließlich der Prozesskontrolle für die Gleichmäßigkeits- und Ertragsanalyse. Das Modell kann Lithographie-Hot-Spots erkennen und überwachen, Variationen des Näherungseffekts erkennen und Muster von Wafer zu Wafer verfolgen. Das Gerät kann auch Batch-Berichte erstellen, um die Wafer- und Maskenleistung auf Wafer-für-Wafer-Ebene zu verfolgen. AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 3 bietet zudem eine Reihe von Konnektivitätsoptionen zur Integration in bestehende fab-Systeme. Das System ist konfigurierbar, um Daten von DTCs, optischen Werkzeugen und anderen Inspektionssystemen zu empfangen, und kann erfasste Daten an mehrere fab-Systeme übertragen. Die Kombination aus hochwertiger Bildgebung, umfassender Fehlererkennung und robuster Prozesskontrolle macht AMAT UVision 3 zu einem unverzichtbaren Werkzeug für jede Maske und Wafer Fab. Das Gerät bietet hohe Zuverlässigkeit und Wiederholbarkeit und liefert kritische Leistungsdaten für verbesserte Erträge in der Produktion.
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