Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 4 #293648402 zu verkaufen

AMAT (APPLIED MATERIALS) AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 4 ist eine hochmoderne Masken- und Wafer-Inspektionsanlage. Es wurde entwickelt, um den Durchsatz zu erhöhen, Schrott zu reduzieren und Qualitätskontrollen während der Halbleiterproduktion zu verbessern. Das System bietet automatisierte, lokalisierte Muster-, Fehler- und Overlay-Inspektionen sowie automatisierte Nachanalysefunktionen. Die Inspektionseinheit verwendet die neueste bildgebende Technologie und kombiniert eine Kombination aus hochauflösender, rückbeleuchteter Farbkamera mit einer breiten Palette von UV- und sichtbaren Lichtquellen. Dies verbessert die Fähigkeit des Geräts, Fehler zu erkennen und zu identifizieren, wie Schlitze, Nadelöcher, kurze Hosen und Hohlräume. Die Integration der fortschrittlichen bildgebenden Messtechnik ermöglicht eine umfassende, einfach zu bedienende und genaue Inspektion. AMAT UVision 4 bietet bis zu fünf Mal bessere als herkömmliche Inspektionssysteme und bietet ein unvergleichliches Maß an Genauigkeit und Wiederholbarkeit. Die Maschine verfügt außerdem über eine intuitive Touchscreen-Benutzeroberfläche und verschiedene Konnektivitätsoptionen, wodurch eine einfache Installation oder ein Upgrade gewährleistet ist. Darüber hinaus ist APPLIED MATERIALS UVision 4 auch vollständig skalierbar und konfigurierbar, sodass Anwender das Tool auf ihre spezifischen Bedürfnisse abstimmen können. UVision 4 verfügt auch über eine erweiterte Suite von Fehlererkennungs- und Analysealgorithmen, um eine genaue und wiederholbare Leistung zu gewährleisten. Diese Algorithmen arbeiten zusammen, um eine Vielzahl von Defekten zu erkennen, einschließlich derjenigen im Zusammenhang mit Lithographiemustertreue, Defekten im Zusammenhang mit unregelmäßigen Musterformen und Formen im Zusammenhang mit Oberflächenverunreinigungen. AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 4 ist ein leistungsstarkes und effizientes Werkzeug für Halbleiterhersteller, die ihre Produktqualität verbessern, Schrott reduzieren und den Durchsatz erhöhen möchten. Es bietet erweiterte Bildgebungsfunktionen, automatisierte Fehler- und Overlay-Inspektionen sowie Nachanalyse, Skalierbarkeit und Konfigurierbarkeit und ist somit eine ideale Wahl für eine Vielzahl von Anforderungen an die Masken- und Waferinspektion.