Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 4 #293665708 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 4 Mask and Wafer Inspection Equipment ist ein hochmodernes Bildgebungssystem, das für eine Vielzahl von Herstellungsverfahren für Halbleiter und integrierte Schaltungen (IC) entwickelt wurde. Die Einheit kombiniert Hellfeld- und Dunkelfeldinspektion und modernste Ausrichtungsanalysealgorithmen, um die höchste Ausbeute bei der Halbleiter- und Waferherstellung zu gewährleisten. Die Maschine ermöglicht eine zerstörungsfreie Fehlerinspektion und liefert detaillierte Bilder der Oberflächentopographie sowie der möglichen Fehlerstellen innerhalb einer Maske oder eines Wafers. Das Tool enthält erweiterte Bildverarbeitungsalgorithmen, die es ermöglichen, auch die kleinsten potenziellen Fehlerstellen zu identifizieren, die sonst verpasst würden. Die Anlage ist auch in der Lage, feine Muster und Defekte in zwei verschiedenen Tiefen innerhalb einer einzigen Komponente zu untersuchen und zu unterscheiden, wodurch eine qualitativ hochwertige Inspektion jeder Schicht einer Maske oder eines Wafers ermöglicht wird. Das Modell verfügt über hochauflösende digitale Bildgebung und eine intuitive Benutzeroberfläche, mit der Benutzer schnell und einfach verschiedene Arten von Masken- und Waferinspektionen durchführen können. Unterstützte Funktionen sind: Die-to-die-Fehlerinspektion, vorab gescannte Inspektion, vollständige Wafermaskeninspektion, Fehlerinspektion vor Ort und Kopiermaskeninspektion. Darüber hinaus können mehrere Formgeometrieparameter wie Steigung, Fläche, Linie/Raum, Überlappung, Form und Platzierung ausgewertet werden. Darüber hinaus ist AMAT UVision 4 mit einer Maskenausrichteinrichtung ausgestattet, die eine gleichzeitige Anpassung von bis zu zwei Referenzmasken und einer Zielmaske ermöglicht. Dies gewährleistet Genauigkeit und Wiederholbarkeit im Inspektionsprozess. Das System kann von jedem beliebigen Webbrowser, Windows oder UNIX bedient werden und verfügt über eine umfangreiche Bibliothek mit automatisierten MIS-Befehlen (Mask Inspection Machine) zur Unterstützung des automatisierten Betriebs. Darüber hinaus verfügt das Gerät über patentierte Autokorrekturalgorithmen, um die Inspektionszeit zu minimieren, indem die Notwendigkeit einer manuellen Anpassung des Werkzeugs reduziert wird. Die herausragenden Eigenschaften und Funktionen von APPLIED MATERIALS UVision 4 Mask und Wafer Inspection Asset machen es zu einem unverzichtbaren Werkzeug für fortschrittliche Halbleiter- und integrierte Schaltungsherstellungsprozesse. Das Modell ermöglicht eine schnellere und genauere Erkennung von Fehlern, was zu einem verbesserten Ertrag und Durchsatz in Fertigungsumgebungen führt.