Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 4 #9222757 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 4 Equipment ist ein leistungsstarkes, automatisiertes Masken- und Wafer-Inspektionssystem mit hohem Durchsatz, das hauptsächlich im Halbleiterherstellungsprozess eingesetzt wird. Das Gerät ist so konzipiert, dass Herstellungsfehler im freiliegenden Wafer, die möglicherweise zu Leistungsproblemen im hergestellten Gerät führen könnten, schnell und genau erkannt werden. AMAT UVision 4 arbeitet mit einer Reihe automatisierter Prozesse und fortschrittlicher Algorithmen. Die Serie beginnt damit, dass einfallendes Licht, wie UVLED oder Laserlicht, auf einen Wafer auf der Probenstufe gerichtet wird. Das einfallende Licht prallt von der Waferoberfläche ab und wird analysiert, um eventuelle Aberrationen oder Abweichungen im erwarteten Muster der Oberfläche zu erkennen. Anschließend werden reflektierende Bilder erfasst und digitalisiert. Diese digitalisierten Informationen werden dann mit einer Bibliothek von erwarteten Daten verglichen, die in APPLIED MATERIALS UVision 4 geladen wurde. Etwaige Unregelmäßigkeiten werden erkannt und ein elektronisches Signal gesendet, das Abweichungen auf einer visuellen Anzeige hervorhebt. Die von UVision 4 erhobenen Daten werden dann zur Erstellung eines auswertbaren Reports verwendet. Das Detail und die Genauigkeit des Berichts sind in dieser Branche konkurrenzlos. Der Bericht enthält einen Vergleich zwischen der erwarteten und der tatsächlichen Oberflächenform, eine Analyse der Ungleichmäßigkeiten in den Resist-Filmmustern und eine Bewertung der Rauheit der Linienkanten. Die Geschwindigkeit und Genauigkeit von AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 4 ermöglicht eine schnelle und zuverlässige Bewertung von Masken und Wafern während des Herstellungsprozesses. Es erübrigt sich die manuelle Inspektion und kann Herstellungsfehler erkennen, die sonst durch andere manuelle Lösungen unentdeckt bleiben würden. AMAT UVision 4 Tool ist auch sehr anpassbar. Es hat die Fähigkeit, einen weiten Wellenlängenbereich zu detektieren und verschiedene Substrate wie Aluminium, Kupfer und Quarz abzutasten. Darüber hinaus können Benutzer vorhandene Inspektionsalgorithmen ändern oder löschen und benutzerdefinierte erstellen, um ihre spezifische Anwendung anzupassen. Das Gerät ist außerdem mit einer hochauflösenden CCD-Kamera und strahlquellenwählbaren Detektoren zur Schätzung der Zeilenrauhigkeit ausgestattet. Darüber hinaus hat es die Fähigkeit, Multi-Site-Analyse von Wafern gleichzeitig zu erleichtern. Dadurch wird sichergestellt, dass die erhobenen Daten repräsentativ und korrekt sind. Alles in allem ist APPLIED MATERIALS UVision 4 Model eine fortschrittliche und leistungsstarke Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die eine umfassende Bewertung von Masken und Wafern während des Halbleiterherstellungsprozesses ermöglicht. Dadurch können Herstellungsfehler schnell und präzise erkannt werden, was zu einer verbesserten Ausbeute und geringeren Kosten führt.