Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 4 #9378708 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 4 ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die in der Halbleiterindustrie eingesetzt wird. Es wird verwendet, um Fehler in Masken und Wafern zu identifizieren, was eine bessere Chipleistung und höhere Ertragsraten für Hersteller ermöglicht. AMAT UVision 4 basiert auf einer vollautomatischen 6-Zoll-Plattform und bietet eine schnelle und genaue Waferinspektion. Eine detaillierte Sichtprüfung ist bis zu 1,5 Mikrometer mit automatisierter Messtechnik für Halbleitermasken und Wafer verfügbar. Es ist mit einer einstellbaren Beleuchtung ausgestattet, die einen maximalen Kontrast für die Fehlererkennung bietet. Mit einer intuitiven Benutzeroberfläche ist das System äußerst benutzerfreundlich und intuitiv gestaltet. Es unterstützt auch die Entwicklung von maßgeschneiderten Algorithmen zur Fehlerreduzierung. APPLIED MATERIALS UVision 4 ist mit einem hochauflösenden WaferLCI + Kameramodul und einem leistungsstarken KI-fähigen Prozessor integriert. Dadurch kann das Gerät eine Bildauflösung von bis zu 100 um/Pixel bei erhöhter Fokustiefe liefern. Dies wiederum ermöglicht eine präzise Fehlerklassifizierung und eine effiziente Probenanalyse. UVision 4 bietet erhebliche Vorteile für die Halbleiterindustrie. Interpretierbare Bilder werden während der Wafer-Inspektion erzeugt, die helfen können, falsche Lithographie zu identifizieren, während Fehlalarme mit dem LUCenter-Algorithmus der Maschine identifiziert und unterdrückt werden. Zusätzlich führt das Werkzeug eine mustererkennungsunterstützte Fehlererkennung durch, die eine höhere Genauigkeit und weniger Fehlalarme bietet. Außerdem hilft AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 4's SmartStation-Arbeitsablaufoptimierungseigenschaft, Durchfluss zu vergrößern. Die Echtzeit-Fehlerüberprüfung bietet eine effiziente Prozessüberwachung und -kontrolle. Gleichzeitig wird die Datenexport-Fähigkeit auch über die WaferTrace-Software bereitgestellt. Insgesamt ist AMAT UVision 4 eine fortschrittliche Masken- und Wafer-Inspektion, die eine zuverlässige Fehlererkennung für moderne Halbleiterhersteller liefert. Es kommt mit leistungsstarken Funktionen für verbesserte Effizienz und Genauigkeit, während sein benutzerfreundliches Design macht es eine attraktive Wahl für jeden Halbleiterhersteller.