Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 4 #9390689 zu verkaufen

AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 4
ID: 9390689
Brightfield inspection systems.
AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 4 Ausrüstung ist eine fortschrittliche kritische Bereich Maske und Wafer Inspektion (CAMI) Plattform. Dieses System wurde entwickelt, um eine hochgenaue, submikronauflösende Bildgebung und Analyse von opaken und transparenten Wafern und Masken zu ermöglichen. AMAT UVision 4 ist mit einem hochmodernen Dual-Beam-Bildgebungs- und Analyseverfahren ausgestattet, das eine Auflösung im Nanometermaßstab ermöglicht. Diese Maschine ist in der Lage, Fehler in Masken und Wafern zu erkennen und zu korrigieren, die sonst unentdeckt bleiben können. ANGEWANDTE MATERIALIEN UVision 4 Werkzeug besteht aus vier Hauptkomponenten: (1) Ein Hochleistungs-Dual-Strahl-Mikroskopie Asset; (2) Ein hocheffizientes Kühlmodell; (3) eine Hochgenauigkeits-Bildanalyseausrüstung; und (4) ein hochauflösendes Bildanzeigesystem. Die Zweistrahl-Abbildungseinheit verwendet sowohl einen optischen Strahl als auch einen Elektronenstrahl, um eine Submikron-Auflösung-Abbildung und Analyse von Wafern und Masken bereitzustellen. Die Dual-Beam-Mikroskopie-Maschine ermöglicht die direkte Messung kritischer Abmessungen (CD), Kontaktlochmaße und Raumintervalle auf der Waferoberfläche und dem Maskensubstrat. UVision 4 Cooling Tool basiert auf einer patentierten Technologie, die eine schnelle Probenkühlung unter Beibehaltung der Submikron-Auflösung ermöglicht. Die gekühlte Kammer lässt die Probe bei Temperaturen bis -100 ° C bleiben. Dies hilft, die komplexe Landschaft der physikalischen Interaktionen zu reduzieren, die zwischen der Probe und dem bildgebenden Gut auftreten könnten, und liefert erstaunlich klare Bilder. Das hochgenaue Bildanalysemodell umfasst eine Reihe ausgefeilter Softwarepakete, die Fehlererkennung, Isolierung und Identifizierung ermöglichen. Diese Ausrüstung arbeitet, um Fehler wie Kratzer, Hohlräume oder Nicht-Koplanaritäten zu erkennen und zu melden, sowie die Orientierung von Mängeln. Automatisierte Analyseergebnisse können zur weiteren Überprüfung in verschiedenen Formaten ausgegeben werden. Schließlich ist AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 4 Bildanzeigesystem entworfen, um die Live-Betrachtung und Überprüfung von Bildern zu verbessern. Es bietet hochauflösende, hochwertige Bilder für genaue Fehlerüberprüfung und Problemlösung. Insgesamt verfügt AMAT UVision 4 Einheit über eine Reihe von Funktionen, die es zu einem unschätzbaren Vermögenswert in der Elektronikindustrie machen. Seine Auflösungs- und Erkennungsfunktionen im Nanometermaßstab sowie seine robuste Kühlmaschine ermöglichen eine genaue Inspektion und Analyse von undurchsichtigen und transparenten Wafern und Masken. Dieses Tool ist sicher, ein zunehmend wichtiges Werkzeug in der Branche für die kommenden Jahre zu werden.
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