Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 5 #293812142 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 5 ist ein leistungsstarkes Masken- und Wafer-Inspektionssystem, das überlegene Fehlererkennungs- und Klassifizierungsmöglichkeiten bietet. Es ist ein vollautomatisches System, das eine einzigartige Kombination aus UV-Bildgebung und Videoanalyse verwendet, um Partikel, Kratzer und andere Defekte an Masken und Wafern zu identifizieren und zu klassifizieren. AMAT UVision 5 verwendet Laserbeleuchter, um eine kontrastreiche Bildgebung zu ermöglichen, was besonders nützlich ist, um selbst kleinste Partikel, Kratzer und andere Defekte zu identifizieren. Die UV-Strahlung hilft, falsche Defekte zu reduzieren, bietet eine hohe Empfindlichkeit und beseitigt gängige bildgebende Artefakte. Darüber hinaus verwendet APPLIED MATERIALS UVision 5 Hochgeschwindigkeits-Videokameras und leistungsstarke Videobildverarbeitungsalgorithmen, um Fehler zu erfassen und zu analysieren. Jeder Fehler wird in seinem ursprünglichen Zustand verfolgt und mit dem vorherigen Bild gemessen, um sie genau zu identifizieren und zu klassifizieren. UVision 5 ist für einen hohen Durchsatz ausgelegt, da es bis zu 24 Masken oder Wafer gleichzeitig ausführen kann. Es verwendet eine flexible Softwarearchitektur, die eine einfache Integration in Wafer-Inspektionstools ermöglicht. Es unterstützt auch die Sammlung von Inspektionsergebnissen im Format der Wahl des Kunden. Darüber hinaus verfügt das System über eingebaute Tools zur automatisierten Fehlererkennung, einschließlich benutzerdefinierter Regeln zur Fehlerklassifizierung. AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 5 ist ein wirksames und zuverlässiges Werkzeug zur Qualitätssicherung in der Halbleiterproduktion. Es kann verwendet werden, um potenzielle Partikel, Kratzer und andere Defekte an Masken und Wafern schnell zu identifizieren und zu klassifizieren, was letztlich eine höhere Ausbeute am Ende der Produktion ermöglicht. Darüber hinaus ist es ein kostengünstiges Werkzeug, mit dem selbst die härtesten Standards für die Fehlererkennung und -klassifizierung erfüllt werden können.