Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 5 #9064274 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 5 ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die entwickelt wurde, um höchste Genauigkeit und Leistung in der Halbleiterherstellung zu gewährleisten. AMAT UVision 5 ist auf anspruchsvolle Spezifikationen ausgelegt und auf die spezifischen Anforderungen der Halbleiterhersteller zugeschnitten. Das System deckt die gesamte Waferoberfläche ab und verfügt über eine neue Generation fortschrittlicher Optik, eine integrierte Bildaufnahmeeinheit und eine intuitive grafische Benutzeroberfläche. ANGEWANDTE MATERIALIEN UVision 5 ist mit einer elektrisch abgetasteten Bühne ausgestattet, um sowohl Wafer als auch Masken ohne vertikale Bewegung abzutasten. Der Wafer kann in einem Bogenmuster, Kreismuster oder in einer linearen Abtastrichtung abgetastet werden, um die gesamte Waferoberfläche abzudecken. Der Scanner ist in der Lage, die Kanten und Ecken der Maske oder des Wafers genau zu überprüfen und gleichzeitig wiederholbare und reproduzierbare Messungen vorzunehmen. Die fortschrittliche Optik von UVision 5 bietet sehr detaillierte Bildgebungsfunktionen. Das Mikroskop hat eine maximale Auflösung von 2 nm. Das Optikmodul verfügt über separate Beleuchtungskanäle, um eine optimale Leistung und Bildverarbeitung zu gewährleisten. Auch hochauflösende Bildaufnahmen sind verfügbar, die eine detaillierte visuelle Inspektion des Wafers oder der Maske ermöglichen. Die integrierte Bildaufnahmemaschine von AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 5 besteht aus einer Kamera, einer Lichtquelle und einer Steuereinheit. Die Kamera kann Bilder in High Definition aufnehmen und enthält ein extra breites Fokusebene Array eines anspruchsvollen dielektrischen Multilayer-Interferenzfilter-Werkzeugs, das eine erhöhte Empfindlichkeit ermöglicht. Die Lichtquelle ist ebenfalls steuerbar und kann je nach Anwendungsbedarf eingestellt werden. Die grafische Benutzeroberfläche von AMAT UVision 5 ist intuitiv und einfach zu bedienen. Es wurde entwickelt, um die Bedienung des Objekts zu vereinfachen und das Rätselraten des Benutzers bei der Positionierung des Wafers oder der Maske für die Inspektion zu reduzieren. Die Software enthält auch eine Bibliothek mit voreingestellten Bildern und Werkzeugen zur Raumanalyse, um den Benutzer bei der Analyse von Fehlerorten und der Identifizierung von Fehlern zu unterstützen. Abschließend ist APPLIED MATERIALS UVision 5 ein spezielles Wafer- und Maskeninspektionsmodell, das beispiellose Genauigkeit und Leistung in der Halbleiterherstellungsszene liefert. Die fortschrittliche Optik, die integrierte Bilderfassungsausrüstung und die intuitive grafische Benutzeroberfläche bieten Anwendern die Möglichkeit, Wafer oder Masken einfach zu überprüfen und zu analysieren, um sicherzustellen, dass sie die hohen Anforderungen der Halbleiterindustrie erfüllen.