Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 5 #9389748 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 5 ist eine Maske & Wafer Inspektion Ausrüstung verwendet, um Mängel in Wafer und Reticle Herstellung zu erkennen. Das System verfügt über eine Scheiteloptik-Technologie, die eine hochauflösende Detektion von Wafern und Masken ermöglicht, und eine spezielle Beleuchtungseinheit, die eine breite Palette von Temperatur- und Fokusanpassungen ermöglicht. Darüber hinaus bietet die Maschine einzigartige automatisierte Funktionen, die die Workflow-Effizienz verbessern und die Arbeitsbelastung des Bedieners minimieren. Das Werkzeug verfügt über einen 12-Zoll-optischen Tisch und zwei bewegliche Kabelbahnen-Systeme, für mehr Flexibilität in der Prüfungskonfiguration. Ein automatisiertes Auto-Alignment-Asset ermöglicht eine präzise Positionierung von Wafern und Masken, was mit einer Genauigkeit von 2 Mikrometern oder weniger erfolgen kann. Das Modell beinhaltet auch die DIS-Technologie (Digital Image Stabilization), die Jitter und Unschärfe von Bildern entfernt. AMAT UVision 5 verwendet fortschrittliche Bildverarbeitungsalgorithmen, um die genaue Erkennung von Fehlern zu ermöglichen. Das Gerät integriert eine Reihe leistungsstarker Rechenoptionen wie Multi-Frame und Fuzzy Logic Technologie. Dies ermöglicht eine Echtzeit-Bildanalyse und eine präzise Wafer- und Maskenanalyse, die eine schnelle Erkennung von Defekten ermöglicht. Darüber hinaus nutzt das System eine Reihe anpassbarer Datenverwaltungstools, um schnell Ergebnisse zu teilen und die Zusammenarbeit zu verbessern. Das Gerät verfügt auch über eine hochauflösende LED-Anzeige, um eine detailliertere Darstellung von Fehlern zu ermöglichen. Die Maschine ist in der Lage, mehrere Filmschichten mit einem einzigen Scan zu erfassen und kann Partikel und Gruben erkennen, die so klein wie 0,7 Mikrometer sind. Das Tool ermöglicht es Benutzern auch, schnell auf Informationen durch erweiterte Suchfunktionen und kurze Berichtsgenerierungszeit zuzugreifen. Die Gesamtvorteile von APPLIED MATERIALS UVision 5 Masken- und Wafer-Inspektion umfassen verbesserte Produktivität, ein erweitertes Feature-Set, schnellere Ergebnisse, erweiterte Berichtsfunktionen und verbesserte Qualität. Durch die Kombination der Inspektionsmöglichkeiten des Modells mit leistungsstarken Analysealgorithmen und innovativer Software können Anwender sicher sein, dass sie über eine zuverlässige Ausrüstung auf höchstem Niveau verfügen.