Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 7 #293589573 zu verkaufen

AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 7
ID: 293589573
Weinlese: 2008
Brightfield inspection system 2008 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 7 ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage für fortschrittliche Halbleiterlithographieanwendungen. Ein wesentliches Merkmal des Systems ist seine Low-preemptive Scannen, so dass es schnell und genau Fehler zu identifizieren, wodurch der Bedarf an kostspieligen Umrüstungen und Nacharbeiten. AMAT UVision 7 erzielt seine überlegene Leistung durch die Kombination mehrerer fortschrittlicher optischer und bildgebender Technologien. Das Gerät verwendet ein Sony CCD 2048x2048 physikalisches Pixel-Array mit einem 256x256 virtuellen Pixel-Array. Die integrierte CoolSNAP WS Global Verschluss- und Corona-Entladungsbeleuchtung sorgt für überlegene Fehlerempfindlichkeit. Hochauflösende, hochauflösende Bildaufnahme wird mit einer hohen numerischen Apertur, verbesserter Fokustiefe und erhöhtem Dynamikbereich erreicht. Seine 10-Bit-Farbtiefe ermöglicht es ihm außerdem, extrem kleine und subtile Fehler mit Pin-Point-Genauigkeit zu isolieren und zu beheben. ANGEWANDTE MATERIALIEN UVision 7 ist mit einer langlebigen, robusten Architektur konzipiert. Seine leichte, faseroptische Umhüllung gewährleistet einen außergewöhnlichen Schutz vor Umwelt- und elektrischen Störungen und ist somit für raue Industrie- oder Reinraumbedingungen geeignet. Die modulare Ausrichtmaschine und das automatisierte Wafer-Handling reduzieren die Zeit und den Aufwand zur Vorbereitung der Fehleruntersuchung. UVision 7 wird auch durch leistungsstarke Software unterstützt, die an die Bedürfnisse und Vorlieben des Benutzers angepasst werden kann. Die VirtualLights Simulatoren bieten eine leistungsstarke Simulationsumgebung, um die optische Leistung des Tools zu erkunden. Darüber hinaus bietet das VisionDesigner Pro-Paket eine Vielzahl von Bildverarbeitungswerkzeugen, die eine optimale Fehlererkennung und -analyse ermöglichen. Damit können alternative Strategien für die Fehleranalyse ausgewertet sowie die Betriebsparameter des Vermögenswertes verändert werden. Zusammenfassend ist AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 7 ein fortschrittliches Masken- und Wafer-Inspektionsmodell, das sich für eine Vielzahl von Lithographieanwendungen eignet. Seine niedrig präventiven Scan- und leistungsstarke Bildgebungstechnologien sorgen für überlegene Leistung und Fehlererkennung, während seine robuste Architektur und sein modulares Design es zu einer ausgezeichneten Wahl für anspruchsvolle Industrie- oder Reinraumumgebungen machen. Mit seinen spezialisierten Softwarepaketen bietet das Gerät Benutzern eine Fülle von Optionen zur Feinabstimmung seiner Leistung, um die genauesten und zuverlässigsten Ergebnisse zu liefern.
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