Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 7 #293665711 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 7 ist eine fortschrittliche Masken- und Wafer-Inspektionsausrüstung, die für die Herstellung fortschrittlicher Halbleiterbauelemente entwickelt wurde. Es ist mit einem kompakten optischen Mikroskopie (COM) -System ausgestattet, um höherauflösende Bilder des Wafers und Maskenmuster für präzise Inspektion zur Verfügung zu stellen. Es ist entworfen, um genaue Inspektion und Überprüfung auf kleinere Fehler und Variationen für eine breite Palette von Materialien und Anwendungen. Das Gerät besteht aus drei Hauptkomponenten - der Beleuchtungsmaschine, dem Optik & Bilderfassungswerkzeug und dem Imaging & Control Asset. Das Beleuchtungsmodell ist für die gleichmäßige Verteilung von gleichmäßigem UV- oder sichtbarem Licht hoher Intensität über den gesamten Wafer oder die Maske verantwortlich, was notwendig ist, um die Strukturen und Muster auf dem Wafer/der Maske genau zu erfassen. Die Optik & Bildaufnahmeeinrichtung besteht aus einer CCD-Kamera und der Optik, die das Bild des Wafer/Maskenmusters erfasst. Das Bildgebungs- und Steuerungssystem ermöglicht es Benutzern, die Belichtung des Bildes, den Fokus des Bildes und die Auflösung, Intensität und Spektralbereich des Bildes zu steuern. AMAT UVision 7 ist mit hoher Genauigkeit und Präzision konzipiert und kann Geräte mit Abmessungen bis zu 0,02 Mikrometer inspizieren. Es enthält auch mehrschichtige Ausrichtungssysteme, um die Inspektionsergebnisse bei jeder Gerätestruktur genau zu registrieren. Das Gerät ist auch mit automatisierten Fehlererkennungsalgorithmen ausgestattet, die Fehler, Verunreinigungen und nicht-funktionale Bereiche des Musters genau erkennen können. Darüber hinaus ist APPLIED MATERIALS UVision 7 mit einer Vielzahl von Layoutformaten kompatibel und verfügt über eine benutzerfreundliche Oberfläche, die eine einfache Manipulation der Maschine ermöglicht. Insgesamt ist UVision 7 ein leistungsstarkes und vielseitiges Masken- und Wafer-Inspektionswerkzeug, das entwickelt wurde, um schnelle und genaue Inspektionen für Halbleiterbauelemente praktisch jeder Größe oder Komplexität zu ermöglichen. Es wird mit fortschrittlichen Bildgebungs- und Erfassungssystemen, umfassenden Kontrollsystemen und automatisierten Fehlererkennungs- und Registrierungssystemen gebaut, um sicherzustellen, dass Bilder von hoher Qualität genau erfasst und hochgenaue Inspektionen durchgeführt werden.