Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 7 #9270850 zu verkaufen

AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 7
ID: 9270850
Brightfield inspection system.
AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 7 ist ein automatisiertes Masken- und Wafer-Inspektionssystem. Das Gerät ist für Produktions- und F & E-Anwendungen konzipiert und bietet eine Vielzahl von Fähigkeiten, um Prozesskontrolle, Fehlererkennung und Ertragsanalyse auf das nächste Level zu bringen. AMAT UVision 7 verwendet eine einzigartige Kombination von dual & linearen 2D-Mosaik-Scan-Algorithmen, um die höchste Wiederholbarkeit und Genauigkeit bei großflächigen Messungen zu gewährleisten. Die vielseitigen, hochmodernen optischen Teilsysteme der Maschine bieten bis zu 10x die optische Leistung herkömmlicher Systeme, während ihre anpassbaren Lichtquellen eine Beleuchtungssteuerung bis zu 288 nm für die komplette Reihe von Fehlertypen ermöglichen. ANGEWANDTE MATERIALIEN UVision 7 verfügt über einen spektral invarianten Hinterseiten-Beleuchtungsmodus für 3D-type Strukturen, die eine hochauflösende Bildgebung und Inspektion extremer Strukturen ermöglichen. Seine fortschrittliche Geräuschdetektions- und Reduktionstechnologie unterdrückt Hintergrundgeräusche und verbessert so die Erkennung von schwachen oder versteckten Defekten. UVision 7 erkennt auch große Bereiche von Defekten wie CDU, Gruben, Grate, Kratzer, Rückstände, Fragmente und Brüche. Die automatisierten Kalibrier- und Selbstkontrollfunktionen bieten die für die Fehlererkennung erforderliche Wiederholbarkeit und Genauigkeit. Das Tool verfügt über integrierte Softwareoptionen wie Kratzunterdrückung, automatische Qualifizierung/Klassifizierung und Defektclustering. AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 7 hat eine Detektionsempfindlichkeit von bis zu 3,2 nm, eine hohe Auflösung von bis zu 25 nm/Pixel und einen Bereich von bis zu 16 Mikrometern. Das Asset bietet eine Fokustiefenanpassung, um sicherzustellen, dass die hochauflösende Bildgebung auch bei lokalen Topographie-Variationen konsistent bleibt. Darüber hinaus bietet es mehrere Vergleichsmöglichkeiten wie Same-Die und Between-Die für eine genauere Erkennung über riesige Datensätze hinweg. AMAT UVision 7 unterstützt auch eine breite Palette von Oberflächen- und Substratmaterial, einschließlich gewellter, feinkörniger, On-Achs- und Off-Axis-Substrate. Es wurde für hohe Zuverlässigkeit entwickelt und bietet eine breite Palette von Integrationsoptionen wie branchenübliche Testschnittstellen, intuitive grafische Benutzeroberfläche (GUI), Job & Pattern Creation Tools und intuitive Out-of-the-Box-Softwaregeräte.
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