Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS UVision 7 #9271006 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS UVision 7 ist eine Masken- und Waferinspektionsanlage, die zur Erkennung von Defekten an Wafern und Photomasken verwendet wird. Es leitet Musterfehler, überwacht den Prozess, erhöht die Zusammenarbeit, stellt die Fehlerklassifizierungsgenauigkeit sicher und erhöht den Durchsatz, um die Komplexität zu reduzieren und die Erträge zu erhöhen. AMAT UVision 7 verwendet ein optisches System mit geladenen Teilchenstrahlen, um Bildgebungs- und Sondendaten von einem Substrat zu erhalten. Diese Technik verwendet Photoelektronenlinse, einen Photoelektronenbeschleuniger und einen Photoelektronendetektor. Diese Komponenten referenzieren ein Elektron und erzeugen ein hochauflösendes Bild, ohne die Oberfläche der Maske oder des Wafers zu verformen. Dieses Bild wird dann bei hoher Vergrößerung untersucht, um mögliche Defekte zu ermitteln. ANGEWANDTE MATERIALIEN UVision 7 enthält eine Direkt-Kathoden-Beleuchtungseinheit zur Wafer-Defekt-Identifizierung. Diese Maschine verwendet einen fluoreszierenden Bildschirm, um die Anzeige von Oberflächenmerkmalen zu verbessern. Helle Flecken auf dem Bildschirm zeigen Unvollkommenheiten in der Oberflächenebene oder -struktur an. UVision 7 verfügt auch über ein Vollfeld-Bildgebungswerkzeug, das gleichzeitig eine ganze Waferoberfläche analysiert. Dies ermöglicht einen umfassenden Überblick über eventuell vorhandene Mängel oder strukturelle Schwächen und kann schnell alle Bereiche identifizieren, die zusätzlicher Aufmerksamkeit bedürfen. Um die Zusammenarbeit zwischen Anwender und Kunde oder Lieferant AMAT/APPLIED MATERIALS zu verbessern, umfasst UVision 7 sowohl Remote-Review-Funktionen als auch Entscheidungs-Support-Tools. Die Remote-Überprüfungsfunktion ermöglicht die Fehlerüberprüfung und Zusammenarbeit von Einrichtungen auf der ganzen Welt. Das Entscheidungsunterstützungs-Tool hilft bei der automatisierten Fehlerklassifizierung, um Komplexität und Bedieneraufwand zu reduzieren. Darüber hinaus umfasst AMAT UVision 7 die zum Patent angemeldete Active Pattern Learning-Fähigkeit. Diese Funktion überwacht kontinuierlich das sich ändernde Muster der Oberfläche im Laufe der Zeit und kann neue oder sich ändernde Muster schnell identifizieren, um latente Fehler zu vermeiden. Insgesamt ist APPLIED MATERIALS UVision 7 eine fortschrittliche Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die Bildgebungs- und Sondierungsfunktionen, direkte Kathodenbeleuchtung für die Identifizierung von Waferdefekten, Vollfeldbildgebung zur gleichzeitigen Analyse ganzer Oberflächen, Remote-Review-Funktionen zur Verbesserung bietet. Die zum Patent angemeldete Active Pattern Learning-Fähigkeit hilft dabei, neue oder sich ändernde Muster zu identifizieren, um latente Fehler zu verhindern. Dieses Modell erhöht in Verbindung mit seinen verschiedenen Merkmalen die Ausbeuten und reduziert die Komplexität, um eine qualitativ hochwertige Produktion von Photomasken und Wafern zu gewährleisten.