Gebraucht ASML / HMI eP3 #293637176 zu verkaufen

ASML/HMI eP3 ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage der nächsten Generation, die das Vorhandensein von Defekten auf Siliziumwafern und Leiterplatten erkennt. Diese anspruchsvolle und fortschrittliche Ausrüstung verwendet optische Bildgebung und leitet einen Lichtstrahl durch den Wafer oder die Leiterplatte, um mikroskopische und mechanische Defekte zu identifizieren. Fehler können erkannt werden, bevor sie Prozess- oder Ertragsverluste verursachen. HMI eP3 ist mit einem hochauflösenden optischen Abbildungsgerät und einem ultravioletten Anregungslaser aufgebaut. Ein automatisiertes hochauflösendes digitales Bildgebungssystem bietet einen Überblick über jedes Mikro-Feature auf Wafer und Leiterplatte. Der im bildgebenden Verfahren verwendete ultraviolette Anregungslaser erzeugt eine ultraviolette Beleuchtung mit hoher Genauigkeit. Diese Beleuchtung ermöglicht die genaue Erkennung von Defekten und Unvollkommenheiten auf Wafern und Leiterplatten. ASML eP3 ist zudem mit einer speziellen Fehlerklassifizierungs- und Analyseeinheit ausgestattet, die mithilfe fortschrittlicher Algorithmen winzige Fehler auf den Siliziumscheiben identifizieren, klassifizieren und analysieren. Diese Maschine ermöglicht eine schnelle, zuverlässige und effiziente Beurteilung und Messung sowohl der Schwere als auch der Folgen eines bestimmten Defekts. Darüber hinaus umfasst das Tool Autofokus- und Auto-Spot-Systeme, die schnelle Messungen mit punktgenauer Genauigkeit ermöglichen. Diese Systeme ermöglichen die Inspektion von Wafern und Leiterplatten, die größer und komplexer sind. EP3 ist mit einer intelligenten Software ausgestattet, die eine dynamische Steuerung des optischen Anregungslaserstrahls und des Auto-Fokus-Modells ermöglicht, um während des gesamten Inspektionsprozesses eine höchstmögliche Präzision zu gewährleisten. ASML/HMI eP3 ermöglicht es Benutzern, umfassende Details auf jeder geprüften Wafer oder Leiterplatte zuzugreifen. Die umfassende Datenbank speichert Informationen zu über 3 Millionen Wafern, was ein hohes Maß an Genauigkeit und Zuverlässigkeit während des Inspektionsprozesses gewährleistet. Zusammenfassend ist HMI eP3 darauf ausgelegt, unseren Kunden eine zuverlässige und kostengünstige Lösung zur schnellen und genauen Erkennung und Beurteilung von Defekten auf Siliziumwafern und Leiterplatten zu bieten. Das Gerät ist mit einem fortschrittlichen optischen Bildgebungssystem, einer Defektklassifizierungs- und Analyseeinheit, Autofokus- und Spotsystemen und einer umfassenden Datenbank ausgestattet, die es ermöglicht, hohe Datenmengen mit außergewöhnlicher Genauigkeit zu verarbeiten.