Gebraucht BIO-RAD Quaestor Q7 #9240605 zu verkaufen
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ID: 9240605
Overlay metrology system
KINETIC SYSTEMS Vibraplane air table included
Table dimensions: 40" W x 44" L x 36" H.
BIO-RAD Quaestor Q7 ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die den Anforderungen von Halbleiterherstellern und Forschungslabors für hochauflösende Bildanalyse und Fehlercharakterisierung gerecht wird. Das System bietet Hochgeschwindigkeitsbildgebung und Bildanalyse großer Bereiche des Wafers mit flexibler Optik, die eine detaillierte Analyse und Charakterisierung kleiner topographischer Merkmale wie Photolithographiemuster, Überhänge und Oberflächendetails ermöglicht. Die mechanische Stufe und die Abtaststufe sorgen für eine präzise Waferpositionierung und eine genaue Ausrichtung für die großflächige Bildgebung. BIO-RAD QUAESTOR Q 7 Inspektionseinheit ist in der Lage, mehrere Arten von Defekten wie Elektroden, Pads, Linienbreite und andere Merkmale zu erkennen. Es verfügt über drei Lichtquellen für bildgebende Anwendungen wie Waferoberflächenmessungen, Bilderfassung und Bildanalyse und Inspektion. Die Maschine ist mit einem hochauflösenden 5,5 mp CMOS-Detektor und ultraschneller Bildaufnahme und Verarbeitungsgeschwindigkeit ausgestattet. Das Q7-Tool verfügt über eine leistungsstarke Bildanalyse und Data Mining-Software, um Muster und Fehler schnell und genau zu identifizieren. Automatisierte Werkzeugunterstützung ermöglicht es dem Benutzer, Bildmuster und -fehler zu identifizieren, zu isolieren und zu charakterisieren. Darüber hinaus reduzieren fortschrittliche Werkzeuge zur Oberflächenanalyse den Zeitaufwand für die Analyse von Daten aus der Analyse präziser Linienparametermessung, der Messung von Defekten und Profilen sowie des Data Mining erheblich. Das Asset ist einfach zu bedienen und bietet eine intuitive grafische Benutzeroberfläche mit einer Vielzahl von Anwendungen wie Fehlererkennung, Mustererkennung und Fehlercharakterisierung. Eine umfassende Bibliothek mit Common-Surface-Parametern vereinfacht die Bildanalyse. Zusätzlich ermöglicht ein Barcode-Scanner eine schnelle Zuordnung zu Waferdetails wie Batch-ID und Losgröße. Alles in allem ist das Quaestor Q7 Masken- und Waferinspektionsmodell ein umfassendes Werkzeug für die Halbleiterinspektion. Es bietet Hochgeschwindigkeitsabbildungen und Bildanalysen, die eine präzise Charakterisierung kleiner topografischer Merkmale ermöglichen. Die leistungsstarke Software für Data Mining und Bildanalyse sorgt für eine schnelle und genaue Erkennung und Charakterisierung von Fehlern. Es verfügt über intuitive Benutzeroberflächen und flexible Optik, die die Leistung des Systems weiter verbessern.
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