Gebraucht BROWN & SHARPE MicroXcel 765 #9029127 zu verkaufen

ID: 9029127
Measurement system.
BROWN&SHARPE MicroXcel 765 ist eine anspruchsvolle Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die speziell entwickelt wurde, um Photomasken und Wafer schnell und genau auf Defekte zu überprüfen. Es bietet eine hochauflösende, kontrastreiche Inspektion von Masken und Wafern mit bis zu 1000 X Vergrößerung. Das Gerät ist für unterschiedlichste Inspektionsaufgaben ausgelegt, von der Prozesssteuerung bis zur Fehleranalyse. Das Display des Systems ist ein integrierter 15,1-Zoll-LCD-Touchscreen mit einer intuitiven Benutzeroberfläche. Der Bildschirm ist in vier Inspektionsfenster unterteilt, in denen der Benutzer die Masken und Wafer aus bis zu vier verschiedenen Winkeln betrachten kann. Die grafische Benutzeroberfläche ermöglicht es Benutzern, die Bildschirmparameter wie Pixelgröße, Vergrößerungsbereich, Bildgröße und Vergrößerung schnell und einfach anzupassen. Darüber hinaus ermöglichen die hochauflösenden Bilder eine einfache Identifizierung und detaillierte Inspektion der kleinsten Defekte. Das Gerät verfügt auch über Lichtquellensteuerung, die es ermöglicht, die Helligkeit und Farbe der Inspektionsfenster für eine optimale Betrachtung der Masken und Wafer einzustellen. Die Maschine ist mit Autofokus-Steuerung für eine verbesserte Abbildung von Fehlern ausgestattet und verfügt über eine automatisierte Schwelleneinstellung, um eine genaue Inspektion der Masken und Wafer zu gewährleisten. Das Werkzeug ist so konzipiert, dass es unter kontrollierten Temperaturen und Feuchtigkeitsstufen läuft. Dies trägt dazu bei, die Gefahr von Staubverunreinigungen sowie Beschädigungen der Inspektionsfenster während des Inspektionsprozesses zu reduzieren. Das Asset ist zudem mit einer Vielzahl führender industrieller Bild- und Analysesoftware wie Metius, Digital PhotoWorks und Image Analysis kompatibel, die es dem Anwender ermöglicht, Rohbilddaten problemlos in ihre bestehenden Analyse- und Inspektionsprozesse zu integrieren. MicroXcel 765 ist ein fortschrittliches Inspektionswerkzeug zur Masken- und Wafererkennung und Fehleranalyse. Es ist mit einer benutzerfreundlichen Oberfläche, hochauflösender Bildgebung und automatisierten Prozessen für konsistente und zuverlässige Inspektionen ausgestattet. Das Gerät ist für extreme Temperaturen und Luftfeuchtigkeit konzipiert und mit einer Reihe führender industrieller Bildgebungs- und Analysesoftware kompatibel, was es zu einem idealen Modell für die Prozesskontrolle und Fehleranalyse in der Halbleiterindustrie macht.
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