Gebraucht BROWN & SHARPE MicroXcel PFX 765 #293604356 zu verkaufen

BROWN&SHARPE MicroXcel PFX 765 ist ein hochwertiges, automatisiertes Masken- und Wafer-Inspektionssystem, das speziell für die Halbleiterindustrie entwickelt wurde. Es ist in der Lage, automatisierte Qualitätskontrollen an Photomasken und Wafern durchzuführen. MicroXcel PFX 765 bietet außergewöhnlich genaue, hochauflösende Messungen, die Genauigkeit und Wiederholbarkeit gewährleisten. BROWN&SHARPE MicroXcel PFX 765 nutzt modernste Inspektionstechnologien wie Farbmanagement, Bildverbesserung und Linienverengung. Es verfügt außerdem über ein patentiertes Auto-Alignment-System, das eine präzise und wiederholbare Positionierung sowie einen einzigartigen 10X-Digitalmikroskopiesensor ermöglicht, der eine vergrößerte Abbildung der Wafer- und Photomaskenoberflächen ermöglicht. Die Inspektionsleistung wird durch die erweiterten Verarbeitungsfunktionen des MicroXcel PFX 765 weiter verbessert. Leistungsstarke Algorithmen erkennen und unterscheiden hohe und niedrige Kontrastfehler mit einer Auflösung von 0,10 μ m. BROWN&SHARPE MicroXcel PFX 765 bietet zudem schnelle Datenverarbeitungs- und Ergebnisspeicherung sowie Zugänglichkeit zu Back-End-Analyse- und Report-Generierungsprogrammen. MicroXcel PFX 765 ist hochgradig anpassbar und ermöglicht es Benutzern, das System nach ihren spezifischen Qualitätskontrollanforderungen zu konfigurieren. Sowohl Software- als auch Hardware-Upgrades stehen zur Verfügung, um den Anforderungen unterschiedlicher Prüfprozesse und den unterschiedlichen Anforderungen jeder Anwendung gerecht zu werden. Außerdem bieten benutzerfreundliche Grafiken eine benutzerfreundliche Oberfläche für einfache Navigation und zuverlässige Ergebnisauswertung. BROWN&SHARPE MicroXcel PFX 765 ist eine unglaublich robuste, zuverlässige und effiziente Möglichkeit, Qualitätskontrollen für verschiedene Halbleiterprozesse und Anwendungen durchzuführen. Die fortschrittliche Bildgebung und das leistungsstarke Feature-Set machen es perfekt für kritische Masken- und Wafer-Inspektionsanforderungen.