Gebraucht CHAUVIN ARNOUX CA 6425 #9352728 zu verkaufen

CHAUVIN ARNOUX CA 6425 Mask & Wafer Inspection Equipment ist ein Halbleiter-Test- und Messsystem, das für die Inspektion von fortschrittlichen Wafern und Maskenlithographie entwickelt wurde. Es ist mit einer eingebauten optischen Station versehen, die eine hochauflösende digitale Bildgebung zur Erkennung von Fehlern bereitstellt. Dieses Gerät verfügt über eine intuitive Benutzeroberfläche, automatisierte Funktionen und Messfunktionen, die für bestimmte Anwendungen angepasst werden können. Die Inspektionsmaschine kommt mit CHAUVIN-ARNOUX CA 6420/6421 Digital Video Tools Software, ein integriertes Entwicklungstool, das eine intuitive und leistungsstarke grafische Benutzeroberfläche zur Steuerung der Bedienung bietet. Diese Software ermöglicht es dem Benutzer, die abgebildeten Wafer und Masken durch Operationen wie Kontrast, Helligkeit und binäre Operationen zu messen, zu analysieren und zu berichten. Die Software CA 6420/6421 Video Tools ermöglicht auch erweiterte Funktionen wie Kantenmasken- und Lochmaskenerkennung und Kreuzmarkierung. Weitere Merkmale von CA 6425 Mask & Wafer Inspektion umfassen variable Sichtfeld für hoch- und niederauflösende Bildgebung, mehrere Beleuchtungsoptionen für verschiedene Arten von Masken und Wafern, Bilderfassungs- und Vergleichsmöglichkeiten sowie erweiterte Funktionen für automatische Fehlerklassifizierung und Berichterstattung (ADCR). CHAUVIN ARNOUX CA 6425 Maske & Wafer Inspektionswerkzeug kann mit einer Reihe von verschiedenen externen Inspektionseinrichtungen und Zubehör wie einer motorisierten Z-Bewegungsstufe, motorisierten und manuellen X-Y-Stufen, Digitalkamera, 2D BGA Pick-and-Place und Wafer-Pegel Messsysteme integriert werden. Um die Genauigkeit zu gewährleisten, werden alle externen Geräte von der CHAUVIN-ARNOUX Software entsprechend der jeweiligen Anwendung sorgfältig kalibriert. Zusätzlich kann CA 6425 Mask & Wafer Inspection Asset auch mit einem Analysemodul integriert werden, was sowohl eine Fehlerbewertung als auch eine Fehlerklassifizierung und -berichterstattung ermöglicht. Das Analysemodul bietet automatisierte Mess- und Berichtsfunktionen für verschiedene Testfunktionen wie Linien- und Kantenbreite, Kreis- und Ellipsengröße sowie Registriergenauigkeit. Insgesamt ist das Modell CHAUVIN ARNOUX CA 6425 Mask & Wafer Inspection eine intuitive und leistungsstarke Ausrüstung, die hochauflösende Bildgebung, automatisierte und kundenspezifische Messfunktionen und integrierte Fehleranalysen bietet. Es wurde entwickelt, um die Anforderungen der heutigen Halbleiterindustrie an die Herstellung von Hochgeschwindigkeits-Wafern und Gerätemasken zu erfüllen.