Gebraucht CRYSTAL 4095-1E #9392980 zu verkaufen

CRYSTAL 4095-1E ist eine umfassende Masken- und Wafer-Inspektionsanlage, die für Hochgeschwindigkeits- und hochwertige automatisierte Produktionslinien-Bildgebung entwickelt wurde. Das System verfügt über einen motorisierten Inspektionsbehälter, ein In-situ-Wafer-Prozessmodul und eine leistungsstarke Software-Suite, um eine genaue und detaillierte Vollfeldinspektion von Halbleitermasken und Wafern zu ermöglichen. Der motorisierte Prüfbehälter verwendet eine hochauflösende Kamera, um Bilder des Wafers zu erfassen, während das In-situ-Wafer-Prozessmodul erweiterte Inspektionsalgorithmen erleichtert. Der Behälter, der auf einer Präzisionsmesseinheit und einem schwingungsarmen Boden montiert ist, ist in der Lage, auf mehrere Brennpunkte auf der Maske oder dem Wafer zuzugreifen. Diese intelligente Maschine ermöglicht eine präzise Bearbeitung des Wafers bei weitem Betrachtungswinkel. Die in das Tool integrierte Software-Suite ermöglicht eine schnelle und genaue Bildanalyse. Die Suite wurde entwickelt, um Retikel, Defekte, Partikel, Kratzer und andere visuelle Unregelmäßigkeiten auf Masken und Wafern zu erkennen. Die Suite führt viele simultane Operationen durch, einschließlich Mustererkennung, Klassifizierung, Erkennung und Bildsegmentierung. Es bietet auch erweiterte Berichterstattung, sowie Post-Inspektion Abzeichen. Das Asset verfügt über eine optionale Inspektionslichtquelle der nächsten Generation, um die Partikelgrößen auf bis zu 0,3 Mikrometer zu reduzieren. Dies gewährleistet eine optimale Auflösung und Genauigkeit bei der Inspektion kleiner Merkmale und mikroskopischer Defekte. Das Modell beinhaltet auch intelligente Beleuchtungs- und Bildgebungsalgorithmen zur hochpräzisen Wafer-Bildgebung sowie eine automatisierte Mustererkennung für eine schnelle und genaue Fehlererkennung. Die Anlage wurde für eine optimale Flexibilität konzipiert und ermöglicht eine einfache Integration in bestehende Fertigungsprozesslinien. Es kommt auch mit einer umfangreichen Bibliothek von Standard-Testbildern und Fehlervorlagen, so dass Benutzer schnell mehrere Mustervariationen gleichzeitig auswerten können. Insgesamt bietet 4095-1E umfassende Masken- und Wafer-Inspektionsmöglichkeiten zu einem kostengünstigen Preis. Die leistungsstarke Bildgebungssoftware, fortschrittliche Bewegungssteuerung, hochauflösende Optik und intelligente Beleuchtung sorgen für eine hohe Genauigkeit und Zuverlässigkeit. Es profitiert auch von einer robusten Konstruktion und Konstruktion, so dass es ideal für den Einsatz in großvolumigen Halbleiterherstellungsumgebungen ist.