Gebraucht CRYSTAL 4095-1E #9392981 zu verkaufen

CRYSTAL 4095-1E ist eine Masken- und Wafer-Inspektionsanlage von JEOL, einem führenden Anbieter von fortschrittlichen Produkten und Dienstleistungen für die Elektronenstrahlmikroskopie. 4095-1E wurde entwickelt, um die Anforderungen der anspruchsvollsten Inspektionsanwendungen durch die Kombination der neuesten Rasterelektronen (SEM) und Atomkraft (AFM) Mikroskope zu erfüllen. CRYSTAL 4095-1E verfügt über ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop zur Submikron-Fehlererkennung auf großen Schaltungswafern. Mit seinem dreiachsigen Mikropositionierer bietet das System hochpräzise Messungen bei höchster Genauigkeit. Das Gerät umfasst auch eine hochauflösende Bilderfassungsmaschine mit automatischem dynamischen Fokus zur verbesserten Fehlererkennung. Darüber hinaus ermöglicht das fortschrittliche Atomkraftmikroskop 4095-1E die Erkennung von Defekten im Nanometermaßstab auf Wafern außerhalb der Reichweite von SEM. Das Tool umfasst ein hochauflösendes Bildverarbeitungsmaterial und eine automatische Nähsoftware, um eine schnellere Datenerfassung und eine verbesserte Fehlererkennung zu ermöglichen. CRYSTAL 4095-1E bietet zudem eine leistungsstarke Mikroskoplichtquelle für kontrastreiche Bildgebung und erweiterte Auflösung. Es enthält eine proprietäre Model Vision Software zur automatisierten musterbasierten Fehlererkennung. Die Software wurde sorgfältig kalibriert, um Haftung, Rauheit und andere Fehler aus der Herstellung komplexer Strukturen zu erkennen. Darüber hinaus integriert sich das Gerät in ein externes Bildverarbeitungssystem, um die Bildqualität zu verbessern und die Benutzerfreundlichkeit zu verbessern. Das intuitive Touchscreen-Display des Geräts ermöglicht es Anwendern, Maschinenparameter einfach anzupassen und Datenanalysen schnell und effektiv durchzuführen. 4095-1E bietet ein leistungsfähiges und vielseitiges Werkzeug zur Durchführung der Masken- und Waferinspektion. Mit seinen fortschrittlichen Rasterelektronen- und Atomkraftmikroskopen, hochauflösenden Bildgebungssystemen und der ausgeklügelten Software wurde CRYSTAL 4095-1E entwickelt, um selbst anspruchsvollsten Anwendungen für die Masken- und Waferinspektion gerecht zu werden.